[實用新型]電源IC高精度電壓測試電路

有效

• 申請號: 201220385150.5
• 申請日: 2012-08-06
• 公開（公告）號: CN202693752U
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 袁俊
• 申請（專利權）人: 東莞利揚微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R19/25
• 代理公司: 東莞市冠誠知識產權代理有限公司 44272
• 代理人: 張作林

技術領域

本實用新型涉及電子測試器件，特別涉及一種高精度的電子測試機的電路裝置。

背景技術

通用測試機一般的電壓測量精度在1mv左右，可以覆蓋大多數產品的電壓測量的精度要求。但是，目前有部分產品需要電壓測量精度到0.1mv，比如電表計量芯片、電源管理芯片。如果使用測試機的高精度電壓測量選件，價格極其昂貴。而開發使用ADS1110來擴展測試機的電壓測量精度具有成本低、使用靈活等特點。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是克服現有測試機的精度不足，提供一種結構簡單、使測試精度達到0.1mv的測試機。

本實用新型通過以下技術方案實現：

電源IC高精度電壓測試電路，包括前置放大端模塊、電壓轉換模塊和測試機，所述的前置放大端模塊分別與信號源和電壓轉換模塊連接，所述的電壓轉換模塊通過I2C總線與測試機連接，待測設備分別與所述的前置放大端模塊和測試機連接。

進一步地，所述的前置放大端模塊由ICL7650芯片構成一自穩零斬波放大器。

更進一步地，所述的自穩零斬波放大器包括主放大器、調零放大器和電子開關。所述的電壓轉換模塊采用ADS1110芯片。

本新型的有益效果是：

利用ICL7650自穩零斬波放大器組成的電路作為前置放大端，對原始信號進行低失真的放大，然后通過差分輸入到ADS1110?16位AD芯片進行電壓轉換，最后通過測試機的讀取轉換后的數據來進行判斷。

ICL7650利用動態校零技術消除了CMOS器件固有的失調和漂移，從而擺脫了傳統斬波穩零電路的束縛，克服了傳統斬波穩零放大器的這些缺點。

???通過在傳統的測試機外圍增加ADS1110芯片提高測量精度，可以兼容現有的測試機的同時，更加方便實用，降低使用成本。

附圖說明

圖1為本實用新型的工作流程圖；

圖2為本實用新型的前置放大端模塊電路圖；

圖3為本實用新型中ADS1110內部結構圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型作進一步描述：

如圖1所示，電源IC高精度電壓測試電路，包括前置放大端模塊ICL7650、電壓轉換模塊ADS1110和測試機，所述的前置放大端模塊ICL7650分別與信號源和電壓轉換模塊ADS1110連接，所述的電壓轉換模塊ADS1110通過IIC總線與測試機連接，待測設備分別與所述的前置放大端模塊ICL7650和測試機連接。

進一步地，所述的前置放大端由ICL7650芯片構成一自穩零斬波放大器。

更進一步地，所述的自穩零斬波放大器包括主放大器、調零放大器和電子開關。所述的電壓轉換模塊采用ADS1110芯片。

利用ICL7650自穩零斬波放大器組成的電路作為前置放大端，對原始信號進行低失真的放大，然后通過差分輸入到ADS1110（16位AD芯片）進行電壓轉換，最后通過測試機的讀取轉換后的數據來進行判斷。

ICL7650自穩零斬波放大器，工作原理如下：ICL7650利用動態校零技術消除了CMOS器件固有的失調和漂移，從而擺脫了傳統斬波穩零電路的束縛，克服了傳統斬波穩零放大器的這些缺點。ICL7650的工作原理如圖2所示。圖中，MAIN是主放大器（CMOS運算放大器），NULL是調零放大器（CMOS高增益運算放大器）。電路通過電子開關的轉換來進行兩個階段工作，第一是在內部時鐘（OSC）的上半周期，電子開關A和B導通，A和C斷開，電路處于誤差檢測和寄存階段；第二是在內部　時鐘的下半周期，電子開關A和C導通，A和B斷開，電路處于動態校零和放大階段。由于ICL7650中的NULL運算放大器的增益A0N一般設計在100dB左右，因此，即使主運放MAIN的失調電壓V_OSN達到100mV，整個電路的失調電壓也僅為1μV。由于以上兩個階段不斷交替進行，電容C_N和C_M將各自所寄存的上一階段結果送入運放MAIN、NULL的調零端，這使得圖2所示電路幾乎不存在失調和漂移，可見，ICL7650是一種高增益、高共模抑制比和具有雙端輸入功能的運算放大器。