[實用新型]接箍螺紋退刀位置檢驗量規(guī)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220324485.6
• 申請日: 2012-07-05
• 公開（公告）號: CN202734704U
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張志強;邊道鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 首都航天機械公司;中國運載火箭技術(shù)研究院
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 莫丹

1.一種接箍螺紋退刀位置檢驗量規(guī)，其特征在于：該退刀位置檢驗量規(guī)（6）為管狀，其一端的外壁帶有代表管子公端螺紋標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀和尺寸的螺紋（8），使得退刀位置檢驗量規(guī)（6）能夠旋入接箍（1）內(nèi)；在代表管子公端螺紋標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀和尺寸的螺紋（8）端部、且退刀位置檢驗量規(guī)（6）的外壁中部處設(shè)置有刻槽標(biāo)記（7），刻槽標(biāo)記（7）的位置和刻槽標(biāo)記的寬度（9）代表螺紋的退刀位置（3）的允許范圍。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種接箍螺紋退刀位置檢驗量規(guī)，其特征在于：所述的刻槽標(biāo)記的寬度（9）代表著接箍螺紋退刀位置的允許偏差，其寬度為2毫米至5毫米。