[實用新型]高電壓測試裝置

有效

• 申請號: 201220320447.3
• 申請日: 2012-07-04
• 公開（公告）號: CN202693777U
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 邱鈺蓮;呂俊昌;林宜政;于浩;夏中衛
• 申請（專利權）人: 泰金寶光電（蘇州）有限公司;泰金寶電通股份有限公司
• 主分類號: G01R31/44
• 分類號: G01R31/44
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 施浩

1.一種高電壓測試裝置，其特征在于，包括：

底座；

測試基座，設置于所述底座上，具有容置口以及測試探針，其中所述測試探針位于所述容置口內；

固定單元，設置于所述底座上；

測試單元，設置于所述底座上，并與所述固定單元位于所述測試基座的相對側，所述測試單元包括：

第一固定壁，設置于所述底座上；

第一驅動組件，可動地設置于所述第一固定壁上以相對靠近或遠離所述底座；以及

弧形探針，連接所述第一驅動組件，并受所述第一驅動組件驅動而伸出或縮回。

2.如權利要求1所述的高電壓測試裝置，其特征在于，所述測試探針為電路端點、針形探針或弧形探針。

3.如權利要求1所述的高電壓測試裝置，其特征在于，所述固定單元包括：

第二固定壁，設置于所述底座上，且所述第一固定壁與所述第二固定壁的法線方向互相平行；

第二驅動組件，可動地設置于所述第二固定壁上以相對靠近或遠離所述底座；以及

固定組件，連接所述第二驅動組件，并受所述第二驅動組件驅動而伸出或縮回。

4.如權利要求3所述的高電壓測試裝置，其特征在于，所述第二驅動組件為汽缸。?

5.如權利要求3所述的高電壓測試裝置，其特征在于，所述固定組件的形狀與所述弧形探針形狀相同。

6.如權利要求1所述的高電壓測試裝置，其特征在于，所述第一驅動組件為汽缸。

7.如權利要求1所述的高電壓測試裝置，其特征在于，更包括緩沖單元，設置于所述弧形探針與所述第一驅動組件之間，所述緩沖單元包括：

第一固定塊，固定于所述第一驅動組件；

第二固定塊，所述弧形探針固定于所述第二固定塊，且所述弧形探針朝向所述固定單元設置；以及

彈簧，連接于所述第一固定塊及所述第二固定塊之間。

8.如權利要求1所述的高電壓測試裝置，其特征在于，更包括處理單元，設置于所述底座內，且所述處理單元與所述固定單元及所述測試單元電連接。

9.如權利要求8所述的高電壓測試裝置，其特征在于，更包括控制/輸出接口，與所述處理單元電連接。

10.如權利要求9所述的高電壓測試裝置，其特征在于，所述控制/輸出接口為計算機。

11.如權利要求9所述的高電壓測試裝置，其特征在于，更包括多條電線，且其中一條所述電線連接于所述測試探針及所述處理單元之間，所述電線的其中另一連接于所述弧形探針及所述處理單元之間，另一條所述電線的連接于所述控制/輸出接口與所述處理單元之間。?