[實用新型]一種磁光阱用激光裝置

有效

• 申請號: 201220315100.X
• 申請日: 2012-07-02
• 公開（公告）號: CN202772420U
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發明（設計）人: 涂娟;王謹;詹明生
• 申請（專利權）人: 中國科學院武漢物理與數學研究所
• 主分類號: H01S5/068
• 分類號: H01S5/068
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 徐立

1.一種磁光阱用激光裝置，所述裝置包括光源主體，所述光源主體包括半導體激光管、準直透鏡、衍射光柵和反射鏡，其特征在于，所述裝置還包括：

用于調整所述光源主體的輸出信號頻率的壓電晶體驅動器、用于供所述光源主體輸出的激光通過的無源腔、用于檢測透過所述無源腔的激光的強度并產生第一光檢信號的第一光電檢測單元、用于檢測所述光源主體輸出的激光的強度并產生第二光檢信號的第二光電檢測單元、用于根據所述第一光電檢測單元輸出的第一光檢信號和所述第二光電檢測單元輸出的第二光檢信號輸出第一壓控信號到所述壓電晶體驅動器的伺服單元；

其中，所述伺服單元分別與所述第一光電檢測單元、所述第二光電檢測單元和所述壓電晶體驅動器電連接。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述伺服單元包括：

運算放大器，用于對所述第一光電檢測單元輸出的第一光檢信號和所述第二光電檢測單元輸出的第二光檢信號實施差分放大，并采用預設的斜率調節電平對差分放大結果進行補償，以輸出所述第一壓控信號。

3.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

用于檢測透過所述無源腔的激光的強度并產生第三光檢信號的第三光電檢測單元、用于產生同步參考信號和調制信號的調制信號發生器、用于采用所述同步參考信號對所述第三光電檢測單元輸出的第三光檢信號進行相敏檢波并輸出第二壓控信號至所述壓電晶體驅動器的相檢波單元，所述調制相檢波單元分別與所述第三光電檢測單元、所述調制信號發生器和所述壓電晶體驅動器電連接，所述調制信號發生器還與所述壓電晶體驅動器電連接。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

用于將所述調制信號發生器輸出的調制信號先進行三分頻，再施加于所述壓電晶體驅動器的分頻器，所述調制信號發生器通過所述分頻器與所述壓電晶體驅動器電連接。

5.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述第一光電檢測單元、所述第二光電檢測單元和所述第三光電檢測單元均為光電倍增管。

6.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述衍射光柵和所述反射鏡安裝在同一面板上。