[實用新型]一種燈具測試裝置

有效

• 申請號: 201220293332.X
• 申請日: 2012-06-21
• 公開（公告）號: CN202661248U
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 潘建根
• 申請（專利權）人: 杭州遠方光電信息股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型屬于光輻射測量領域，具體涉及一種燈具測試裝置。

背景技術

燈具，尤其是車用燈具，對于其空間光分布即配光一般都有一定的要求。作為汽車的照明和指示工具，車燈照明分布應能最大限度地照明車輛前方的道路和障礙物，最小限度地照射迎面而來的車輛駕駛員的眼睛，因此，車燈應具有特定的配光性能，其配光性能的好壞對安全行駛起著至關重要的作用，直接關系到人們的財產和生命安全。國內外相關標準均將車燈的配光性能列為法規或者強制性標準的檢測項目，并對相關的測試裝置和測試條件作了相應的規定。

傳統的車燈檢測有兩種方法，一種是被測燈具不動，用照度計分別測量配光屏上不同位置處的照度；另一種是照度計不動，轉動燈具，測量探頭對應燈的不同角度（相當于探頭處于屏的不同位置）處的照度值。通過核查各個照度值是否符合標準規定，從而判斷燈具是否合格。然而，由于國標GB?4599-2007等標準明確規定，上述測量方法中的配光屏必須位于離燈基準中心25m處、并過HV點的垂直平面，因此要求實驗室的尺寸應足夠大，只能適用于實驗室測量，難以適用于車燈的現場檢測。

為解決傳統檢測方法測量時間長和實驗室空間要求大的不足，現有技術還采用在配光屏和待測燈具之間設置菲涅爾透鏡，將被測燈具在遠處配光屏上的光場分布成像到非涅爾透鏡的像面上，以縮短測量距離，再利用圖像光電探測器測量配光屏上的光分布，從而推導得出燈具的配光性能。這種測量方法雖然可以大幅縮短測量距離，但在實際應用中，由于圖像光電探測器比光電探頭的測量精度要低很多，該方法的測量準確度低；此外，由于菲涅爾透鏡存在多個焦距的特性，也使得上述方法成像模糊，存在較大的色差、球差等多種像差。因此，現有技術方案測量準確度低，測量結果不能真實反映車燈的配光性能，嚴重影響對車燈質量的客觀評價。

實用新型內容

針對上述現有技術的不足，本實用新型旨在提供一種像差小、測量準確度高的燈具測試裝置。

本實用新型所述的一種燈具測試裝置是通過以下技術方案實現的。一種燈具測試裝置，包括用以裝載待測燈具的燈具座和配光屏，其特征在于，包括透鏡單元、用以接收配光屏上光信息的多通道光電探測器和一個或多個單通道光電探測器，透鏡單元設置在配光屏和燈具座之間，多通道探測器設置在透鏡單元之后并對準配光屏，所述的單通道光電探測器設置在配光屏后指定的一個或者多個位置上、并用以接收經配光屏入射到各個位置上的光線。

本實用新型中，所述的配光屏可以為開有一個或多個小孔的漫射屏，單通道光電探測器設置在各個小孔后并接收透過小孔的光線；或者所述的配光屏為漫透射屏，在配光屏后設置黑幕，在所述的黑幕上開一個或多個小孔，單通道光電探測器設置在各個小孔后并接收透過小孔的光線。無論是在漫射屏上開有一個或者多個小孔，還是在漫透射屏后的黑幕上開有一個或者多個小孔，單通道光電探測器都接收并測量穿過小孔的光線，由于單通道光電探測器具有較高的測量精度，該測試裝置測量的配光性能準確度高；特別是當所述的配光屏上的小孔或者黑幕上的小孔位于待測燈具的特征測量區域處，如GB?4599-2007中遠光測試點HV點、近光測試點75R/75L/25R/25L等，通過準確測量上述特征點處的照度，可實現燈具配光性能的準確評價。

在配光屏為漫射屏的技術方案中，多通道光電探測器接收并測量除小孔外、配光屏上其他區域的光信息，將單通道光電探測器的測量結果和多通道光電探測器的測量結果相結合，即可實現配光屏整體配光性能的測量。在配光屏為漫射屏的技術方案中，多通道光電探測器接收并測量整個配光屏上的光信息，將單通道光電探測器測得的測量值與多通道光電探測器上對應位置處的測量值相比較，得到校正系數，用以校正多通道光電探測器上的測量結果，提高測量準確度。

本實用新型中，配光屏可以為平面或曲面的漫反射屏。傳統的車燈測試裝置中，均采用平面型漫射屏，但由于平面屏的球差較大，測量準確度低；若采用球面或拋物面或非球面等曲面配光屏，可有效減小裝置的球差，提高測量準確度。

作為一種技術方案，所述的透鏡單元為單透鏡或者由兩個或兩個以上的單透鏡組成的透鏡組，這里的透鏡組可由一個或者多個正透鏡和負透鏡構成。相比于傳統的菲涅爾透鏡，單透鏡像差小，成像質量好，測量準確度高；由兩個或者兩個以上的單透鏡組成的透鏡組，如由一個或者多個正透鏡和負透鏡構成的透鏡組，正透鏡和負透鏡可以相互抵消球差，進一步提高裝置的測量準確度。因此，相比于現有技術，該測量裝置的像差小，測量準確度高。