[實用新型]一種電子元器件電性測盤

有效

• 申請號: 201220208847.5
• 申請日: 2012-05-10
• 公開（公告）號: CN202614788U
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發明（設計）人: 陳健業;曾艷軍;田志飛
• 申請（專利權）人: 深圳順絡電子股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

技術領域

本實用新型涉及一種電子元器件電性測盤。

背景技術

目前電性能已成為電子元器件的質量核心，業界要求對產品的電性能進行全面高速檢驗。隨著自動化設備的大力推廣，快速、準確將產品植入測盤顯得尤為重要。目前，片式元件分選測盤通常采用平盤結構，在實際的使用過程中由于平盤薄，使用壽命短且產品植入效率不高，影響測試速度。?

發明內容

為了克服現有技術的不足，本實用新型提供了一種電子元器件電性測盤，以提高測試效率，降低生產耗用成本。

一種電子元器件電性測盤，所述電子元器件電性測盤的表面開有槽道，所述槽道內開有通孔。

優選地，所述槽道是弧形槽。

優選地，所述弧形槽是與所述電子元器件電性測盤同圓心的環形槽。

優選地，所述通孔是方形通孔，且所述方形通孔的側壁與所述環形槽的離圓心較遠的內側壁相切。

優選地，所述槽道的厚度小于所測電子元器件的長度。

優選地，所述槽道設置在電子元器件電性測盤的邊緣。

本實用新型的有益效果是：由于在電子元器件電性測盤的開設有槽道，在測盤的被測電子元器件由于測盤的振動容易進入槽道并進入通孔，從而實現電子元器件的定位，進而測試器具才可以進行測試；再者，設置在邊緣的環形槽不僅可以讓更多的被測電子元器件進入環形槽，而且在測盤轉動時，只需要將測試器具固定在一個位置即可以對每個經過的通孔內的電子元器件進行測試；另外增加測盤的厚度使其更加耐用壽命更長。

附圖說明

圖1是本實用新型的電子元器件電性測盤的一種具體實施例的結構示意圖；

圖2是圖1的局部放大示意圖。

具體實施方式

以下將結合附圖，對本實用新型的具體實施例作進一步詳細說明。

如圖1所示，一種電子元器件電性測盤100，所述電子元器件電性測盤100的表面開有槽道101，所述槽道內開有通孔102。

當被測的電子元器件被放到電子元器件電性測盤100上時，電子元器件電性測盤100在驅動裝置的帶動下振動，電子元器件即會慢慢進入槽道101，并插入通孔102內而固定在測盤上。電子元器件電性測盤100轉動，測試電子元器件的電性的測試器具則對每個插入通孔102內的電子元器件進行測試。

優選地，所述槽道101是弧形槽，開弧形槽較為容易，且比方槽不易卡住被測的電子元器件。當然槽道101并不局限于弧形槽，也可以是斜槽或直槽，槽道101也可以設置多個。

優選地，所述弧形槽101是與所述電子元器件電性測盤同圓心的環形槽，只需要將測試器具固定在某個通孔102的對應位置，當電子元器件電性測盤100轉動時，每個通孔102都會經過該測試器具的位置，測試器具可以不用作太大的調整動作即可以對電子元器件進行測試。

優選地，所述通孔101是方形通孔，且所述方形通孔的側壁與所述環形槽的離圓心較遠的內側壁相切，方形通孔有利于保證電子元器件的兩個引腳通過而電子元器件的主體不通過通孔。

優選地，所述槽道101的厚度小于所測電子元器件的長度，有利于電子元器件的引腳通過通孔而被測試器具測試，增加測盤100的厚度能提高其使用壽命。

優選地，所述槽道設置在電子元器件電性測盤的邊緣，這有利于所有散落在測盤100上的電子元器件都在振動下進入槽道101內。

本電子元器件電性測盤100尤其適用于具有兩個引腳的電子器件，且兩個引腳位于電子器件主體的兩端。

以上內容是結合具體的優選實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下做出若干等同替代或明顯變型，而且性能或用途相同，則應當視為屬于本實用新型由所提交的權利要求書確定的保護范圍。