[實(shí)用新型]電阻測(cè)試輔助夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220192128.9 | 申請(qǐng)日: | 2012-04-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202562963U | 公開(公告)日: | 2012-11-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳棟;楊樂(lè) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫卡利克斯科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214028 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電阻 測(cè)試 輔助 夾具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種電阻測(cè)試輔助夾具,尤其是一種電子銀漿料電性能測(cè)試用的輔助裝置。
背景技術(shù)
電子漿料的線阻是衡量漿料電性能優(yōu)越性的一個(gè)重要指標(biāo),現(xiàn)有的測(cè)試方式一般都是采用純手工測(cè)試,純手工測(cè)試的結(jié)果重復(fù)性較差。純手工測(cè)試過(guò)程有著很大的隨意性,不同人員測(cè)試的手法、位置、力度都會(huì)有所不同,結(jié)果會(huì)較大存在差異。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,提供一種電阻測(cè)試輔助夾具,保證漿料產(chǎn)品測(cè)試的可靠性及重復(fù)性,使電阻測(cè)試的過(guò)程更規(guī)范。
按照本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案,所述電阻測(cè)試輔助夾具,包括底板,特征是:在所述底板上安裝兩根導(dǎo)軌,在導(dǎo)軌上設(shè)置可沿導(dǎo)軌上下移動(dòng)的探針安裝板,在所述探針安裝板上安裝有探針測(cè)試線,探針測(cè)試線的探針下端伸出探針安裝板;在所述導(dǎo)軌上方架設(shè)氣缸安裝架,在氣缸安裝架上安裝氣缸,所述氣缸的活塞桿與探針安裝板連接;在所述探針安裝板的下方設(shè)置硅片放置板。
所述硅片放置板的上表面設(shè)有硅片放置槽,硅片放置板的下表面設(shè)置若干齒形槽,該齒形槽與電機(jī)的電機(jī)軸上的齒輪嚙合。
所述探針測(cè)試線包括多組探針,每組探針由正負(fù)極探針組成。
本實(shí)用新型所述的電阻測(cè)試輔助夾具,能夠保證漿料產(chǎn)品測(cè)試的可靠性及重復(fù)性,使電阻測(cè)試的過(guò)程更規(guī)范;本實(shí)用新型可以通過(guò)對(duì)控制程序中主要參數(shù)的修改,就能自動(dòng)完成不同產(chǎn)品印制線路阻值的測(cè)試,如果電阻測(cè)試儀支持微機(jī)操作,也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的自動(dòng)保存。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。
如圖所示:電阻測(cè)試輔助夾具包括底板1、導(dǎo)軌2、探針安裝板3、氣缸安裝架4、氣缸5、探針測(cè)試線6、硅片放置板7、電機(jī)8、電磁閥9等。
本實(shí)用新型包括底板1,在所述底板1上安裝兩根導(dǎo)軌2,在導(dǎo)軌2上設(shè)置可沿導(dǎo)軌2上下移動(dòng)的探針安裝板3,在所述探針安裝板3上安裝有探針測(cè)試線6,探針測(cè)試線6的探針下端伸出探針安裝板3;在所述導(dǎo)軌2的上方架設(shè)有氣缸安裝架4,在氣缸安裝架4上安裝有兩臺(tái)氣缸5,所述氣缸5的活塞桿與探針安裝板3連接,帶動(dòng)探針安裝板3的上下運(yùn)動(dòng);在所述探針安裝板3的下方設(shè)置硅片放置板7,硅片放置板7的上表面設(shè)有用于放置硅片的硅片放置槽,硅片放置板7的下表面設(shè)置若干齒形槽,該齒形槽與電機(jī)8的電機(jī)軸上的齒輪嚙合;
所述探針測(cè)試線6包括多組探針,每組探針由正負(fù)極探針組成;
所述氣缸5通過(guò)電磁閥9與控制箱連接,以對(duì)整個(gè)夾具的運(yùn)動(dòng)過(guò)程進(jìn)行控制。
本實(shí)用新型的工作過(guò)程:將硅片放置于硅片放置板7上表面的硅片放置槽內(nèi),啟動(dòng)控制箱上的測(cè)試開關(guān),控制箱給出信號(hào),電磁閥9動(dòng)作,氣缸5的活塞桿推動(dòng)探針安裝板3向下運(yùn)動(dòng),使探針接觸銀漿印制線的兩端(保持30秒);測(cè)得阻值后,電磁閥9動(dòng)作,氣缸5的活塞桿帶動(dòng)探針安裝板3向上運(yùn)動(dòng),使探針與銀漿印制線松開接觸;控制箱控制電機(jī)8轉(zhuǎn)動(dòng)固定距離,帶動(dòng)硅片放置板7移動(dòng)一定距離,使下組銀漿印制線到達(dá)位置后,重復(fù)上述測(cè)試過(guò)程,直到所有印制線測(cè)試完畢。本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)單明了、方便易操作,避免了純手工測(cè)試過(guò)程中不同人員測(cè)試時(shí)產(chǎn)生的結(jié)果差異,能夠快速、自動(dòng)、標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試出印制線路的電阻值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無(wú)錫卡利克斯科技有限公司,未經(jīng)無(wú)錫卡利克斯科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220192128.9/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





