[實用新型]芯片模組測試插座有效
| 申請號: | 201220192127.4 | 申請日: | 2012-05-02 |
| 公開(公告)號: | CN202614794U | 公開(公告)日: | 2012-12-19 |
| 發明(設計)人: | 朱小剛 | 申請(專利權)人: | 蘇州創瑞機電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
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| 地址: | 215000 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 模組 測試 插座 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種芯片模組測試裝置,尤其涉及一種攝像頭芯片模組測試插座。
背景技術
SOC(System-On-Chip)系列攝像頭芯片模組是一種新型的CMOS芯片成像集成系統,它使用數字圖像信號處理器(ISP)和SOC的算法,定義良好的一步一步的指示、調整,使處理后的圖像或視頻,比原來的美觀,更直觀的圖像傳感器收集的原始數據。SOCS是在單一芯片上強大的處理的SOC,內置圖像傳感器芯片級,易于集成,能降低整體系統成本。
目前由于大多數的CMOS成像模組是采用加載柔性線路板,進行SMT組裝,結構上比較復雜,由于元器件較多,所實現功能沒有SOC成像模組直接,可靠。相應所催生的現有模組測試插座是適用于現有攝像模組的結構,進行功能測試,一般采用ICT探針進行檢測,結構復雜,容易產生開路和短路現象;穩定性較差,同時測試壽命大大降低。特別是,目前市場上的測試插座對柔性線路板進行測試時,接觸點上定位比較困難,可靠性上存在很大的問題,測試效率不高。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提出一種芯片模組測試插座,其結構簡單,操作方便,能確保測試的穩定性和可靠性,且精度高,使用壽命長,從而克服了現有技術中的不足。
為實現上述實用新型目的,本實用新型采用了如下技術方案:
一種芯片模組測試插座,包括上蓋組件以及與上蓋組件配合的底座,所述上蓋組件一端與底座一端鉸接,另一端與一卡扣鉸接。
進一步的講,所述上蓋組件包括上蓋主體、保持環、基準環和壓板,所述卡扣上部與上蓋主體上端面之間設有復數第一彈性元件,所述保持框架另一端設有可與卡扣配合的固定機構,所述基準環固定嵌設于保持環內,所述壓板壓設于基準環下端面上,并與基準環固定連接,所述保持環與上蓋主體下端面固定連接,且保持環與上蓋主體之間還設有復數第二彈性元件,所述固定機構采用固定設置于底座另一端的水平滑管。
優選的,所述上蓋主體上端面上對稱安裝復數第一彈性元件,所述第一彈性元件優選采用扭簧。
所述保持環上端面四角處對稱設有復數安裝孔,每一安裝孔內設有一第二彈性元件,所述第二彈性元件優選采用彈簧。
所述基準環經對稱設置的復數水平導正銷與保持環固定連接,每一導正銷的兩端分別插設于基準環和保持環上設置的銷孔內。
所述壓板經對稱分布的復數螺釘與基準環下端面固定連接,所述上蓋主體一端經一銷軸與保持框架一端鉸接。
所述卡扣上部具有一平面部以及一傾斜上突部,下部具有一卡鉤部,所述第一彈性元件設于上蓋主體上端面與卡扣的平面部之間。
所述底座包括底座主體和復數探針,所述底座主體上固定連接一保持框架,同時,所述底座主體上、下端分別設有一第一容置槽和一第二容置槽,該第一容置槽和第二容置槽內分別安裝有浮動板和保持板,且所述浮動板與底座主體之間設有復數第三彈性元件,該復數探針一端與保持板連接,另一端依次從第一、第二容置槽和浮動板中穿出。
所述復數第三彈性元件均勻分布于第一容置槽四角處。
所述底座下端面還連接有復數支腳,所述支腳上均套設有彈簧。
本實用新型的工作過程如下:(1)推動上蓋組件,使上蓋組件旋轉,這時壓板機構由于重力作用,自動和上蓋部分成一個合適的夾角,尤其優選為110°角,其符合人體操作視角和手法,使操作極為方便;(2)壓板在接觸浮板之前,壓板和上蓋主體的夾角隨旋轉角度的變化而變化;(3)壓板在接觸浮板時,基本保持和浮板處于平行位置;(4)繼續下壓,壓板的壓力使浮動板被壓板水平下壓;(5)鎖緊搭扣,芯片進入測試狀態。
該芯片模組測試插座在測試時,上蓋組件下壓,卡扣卡住,補償彈簧將被壓縮,壓板接觸模組和浮動板,保證對浮動板和模組的下壓力,使探針完全接觸錫球,確保電路的聯通;而在非測試狀態時,卡扣松弛,壓板不接觸模組和浮動板,保證處于非工作狀態。
附圖說明
圖1是本實用新型一較佳實施例中芯片模組測試插座上蓋組件的分解結構示意圖;
圖2是本實用新型一較佳實施例中芯片模組測試插座底座的分解結構示意圖;
圖3是圖2所示芯片模組測試插座底座的俯視圖;
圖4是圖2所示芯片模組測試插座底座的仰視圖;
圖5是本實用新型一較佳實施例中芯片模組測試插座的立體圖;
圖6是是本實用新型一較佳實施例中芯片模組測試插座于復位狀態時的結構示意圖;
圖7是本實用新型一較佳實施例中芯片模組測試插座于測試狀態時的結構示意圖;
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