[實用新型]一種射頻測試屏蔽盒有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220189430.9 | 申請日: | 2012-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN202693636U | 公開(公告)日: | 2013-01-23 |
| 發(fā)明(設計)人: | 楊洪民;李劍 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶楓美信息技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/18 | 分類號: | G01R1/18 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 401121 重慶市北部新區(qū)高新*** | 國省代碼: | 重慶;85 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 射頻 測試 屏蔽 | ||
技術領域
本實用新型屬于RFID-SIM卡測試技術領域,具體涉及一種射頻測試屏蔽盒。
背景技術
由于RF射頻測試對測試環(huán)境要求較高,為避免外界信號對測試過程造成影響,需構(gòu)建一個相對密閉的測試環(huán)境,以屏蔽外界干擾信號。目前使用的RF射頻測試屏蔽盒大多采用開蓋設計,測試時,需先打開屏蔽盒蓋子,然后將待測RFID-SIM卡置入,并將其固定,最后關閉蓋子,開始射頻測試。誠然,這種射頻測試屏蔽盒結(jié)構(gòu)設計較為簡單,然而,使用這樣的射頻測試屏蔽盒,整個的測試操作極為繁瑣,這使得RFID-SIM卡測試效率非常低;同時,大批量的RFID-SIM卡測試過程中,需反復開合屏蔽盒蓋,這不僅大大縮短了射頻測試屏蔽盒的使用壽命,而且,反復的開合操作,很容易對射頻測試屏蔽盒內(nèi)部的結(jié)構(gòu)及測試環(huán)境造成一定的影響和破壞,從而嚴重影響RFID-SIM卡測試的準確率。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的:為了改進射頻測試屏蔽盒的結(jié)構(gòu),以解決現(xiàn)有射頻測試屏蔽盒存在的操作復雜而帶來測試效率低的問題以及反復開合屏蔽盒蓋導致射頻測試屏蔽盒使用壽命縮短、產(chǎn)品測試準確率受到影響等問題,而提出一種射頻測試屏蔽盒。
本實用新型的技術方案:一種射頻測試屏蔽盒,包括屏蔽盒外殼,其中,所述的屏蔽盒外殼為封閉的長方體結(jié)構(gòu);所述的屏蔽盒外殼設有卡座接口、讀卡器PCB接口和信號輸出口;所述的卡座接口設有卡座,且所述的卡座通過卡座接口與屏蔽盒外殼連接;所述的讀卡器PCB接口設有PCB連接板,且所述的PCB連接板通過讀卡器PCB接口與屏蔽盒外殼連接;所述的信號輸出口設有TB測試板,且所述的TB測試板通過信號輸出口與屏蔽盒外殼連接;所述的卡座接口與讀卡器PCB接口之間通過軟排線連接;所述的屏蔽盒外殼內(nèi)設有天線,且所述的天線與信號輸出口連接。
本實用新型的一種射頻測試屏蔽盒,由于將屏蔽盒外殼設計為封閉的長方體結(jié)構(gòu),且在此封閉的屏蔽盒殼體上設置卡座接口、讀卡器PCB接口和信號輸出口,故整個測試過程均在封閉的屏蔽盒內(nèi)進行,此三個接口的設置為內(nèi)部信號的傳遞提供了條件;此外,由于卡座接口與讀卡器PCB接口之間通過軟排線連接,故在RFID-SIM卡與讀卡器之間形成了一個通路,從而讀卡器即可讀取卡中的信息,從而將信號傳遞到上位機上,不僅可以為整個通路通電,而且可以以此判定RFID-SIM卡的連接情況;另外,由于屏蔽盒外殼內(nèi)設有天線,且天線與信號輸出口連接,故當RFID-SIM卡插入并連接正常后,天線可以接收到來自RFID-SIM卡的射頻信號,從而通過TB測試板將信號傳遞給上位機,從而即可進行射頻測試。使用這樣的射頻測試屏蔽盒,無需開蓋即可在密閉的測試環(huán)境中進行整個射頻測試操作,大大提高了測試效率,而且從根本上避免了反復開合屏蔽盒蓋導致屏蔽盒使用壽命縮短的問題,大大提高了產(chǎn)品測試的準確率。
進一步,所述的屏蔽盒外殼為立方體結(jié)構(gòu)。
本實用新型的一種射頻測試屏蔽盒,由于屏蔽盒外殼為立方體結(jié)構(gòu),故在保證射頻測試環(huán)境要求的前提下,采用立方體結(jié)構(gòu),不僅節(jié)省了材料,減低了成本,而且可以減輕整個屏蔽盒的重量。
附圖說明
圖1是本實用新型一種射頻測試屏蔽盒的實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如圖1所示,本實用新型提供一種射頻測試屏蔽盒,包括屏蔽盒外殼1,其中,屏蔽盒外殼1為封閉的立方體結(jié)構(gòu);屏蔽盒外殼1設有卡座接口2、讀卡器PCB接口3和信號輸出口4;卡座接口2設有卡座5,且卡座5通過卡座接口2與屏蔽盒外殼1連接;讀卡器PCB接口3設有PCB連接板6,且PCB連接板6通過讀卡器PCB接口3與屏蔽盒外殼1連接;信號輸出口4設有TB測試板7,且TB測試板7通過信號輸出口4與屏蔽盒外殼1連接;卡座接口2與讀卡器PCB接口3之間通過軟排線8連接;屏蔽盒外殼1內(nèi)設有天線9,且天線9與信號輸出口4連接。
本實施例中,當需要進行RFID-SIM卡射頻測試時,先將TB測試板7與上位機連接,并將讀卡器的一端與讀卡器PCB接口3連接,將其另一端與上位機的USB接口連接,然后將RFID-SIM卡插入卡座5,上電即可進行射頻測試。
需要指出的是,卡座接口2與讀卡器PCB接口3之間通過軟排線8連接,實際上,這就在RFID-SIM卡與讀卡器之間形成了一個通路,這樣,讀卡器即可讀取卡中的信息,從而將信號傳遞到上位機上,上位機可以給其供電,這樣,通過上位機可以判定RFID-SIM卡是否連接正常。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于重慶楓美信息技術股份有限公司,未經(jīng)重慶楓美信息技術股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220189430.9/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





