[實用新型]多波長鐳射測距儀

有效

• 申請號: 201220175855.4
• 申請日: 2012-04-24
• 公開（公告）號: CN202563086U
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 李友正
• 申請（專利權）人: 仲陽企業有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S7/481
• 代理公司: 北京天平專利商標代理有限公司 11239
• 代理人: 孫剛

技術領域

本實用新型系與鐳射測距儀有關，更詳而言之，乃特指一種具有可發設至少兩種波長的鐳射光束，并搭配第一、二波長濾光鏡即可分別產生參考光束與測量光束的鐳射測距儀。

背景技術

習知鐳射測距儀的利用一鐳射光源對準目標物，藉由發射的鐳射光束反射回鐳射測距儀，并以一光接收器接收鐳射光束得以測量與目標物的距離長度。由于一般光接收器為雪崩光電二極體(APD)，其操作時的工作溫度容易影響到測量結果，因此于測量前或中，需另以一已知路徑長度的參考光束供光接收器接收，以校正工作溫度誤差。

一種習知的鐳射測距儀如中國臺灣第工288230號專利，其利用一分光鏡將鐳射光束分為一測量光束及一參考光束，并藉由一快門結構選擇性的擋止于測量光束與參考光束的路徑上，以控制光接收器接收測量光束或參考光束。而此一習知技術需另行設置及切換快門結構動作，除有結構較復雜外，快門切換動作亦會影響到鐳射測距儀反應時間。

另一種習知的鐳射測距儀如美國第7,738,083號專利圖4所示，其采用兩個不同的鐳射光源，其中一鐳射光源則直接折射對準光接收器，以形成已知路徑長度的參考光束。而另一鐳射光源系用以對準目標物，藉由發射的鐳射光束反射回鐳射測距儀，以形成測量光束。藉此，只需控制各鐳射光源的開關，即可切換參考光束或測量光束，無需快門結構的設置，具有切換動作速度快、反應佳的優點。

然而，由于鐳射光源采用二極體來產生鐳射光束，鐳射光源持續發射鐳射光束時，二極體會隨著導電時間增加造成溫度上升。而此一習知技術采用兩個獨立的鐳射光源，加上參考光束與測量光束的發射次數及發射時間長短不同，使用一段時間后兩鐳射光源出現溫度差異。而如此一來兩個獨立的鐳射光源因二極體工作溫度不同，造成測量誤差、精度不足的問題產生。

綜合上開先前技術的缺點，大致上包括習知技術快門結構復雜、需另行控制動作以及影響反應時間，而雙鐳射光源因參考光束與測量光束的發射次數及發射時間長短不同，而有因工作溫度不同造成測量誤差、精度不足的問題。

發明內容

而鑒于解決上述缺點，本實用新型的目的在于提供一種多波長鐳射測距儀，其切換反應時間快和鐳射光源工作條件一致，不易產生誤差及精度高。

為實現上述目的，本實用新型公開了一種多波長鐳射測距儀，用于量測出與一目標物的距離長度，其特征在于該鐳射測距儀包含有：

一發射至少一第一波長及一第二波長的鐳射光束的鐳射光源；

一接收該等鐳射光束以進行距離長度測量的光接收器；

一鏡片，其設于該鐳射光源與目標物間；

一經由該鏡片到達光接收器的第一路徑；以及

一經由該鏡片到達目標物以反射回光接收器的第二路徑從而該鏡片使鐳射光束于通過時形成一往第一路徑的參考光束以及一往第二路徑的測量光束。

其中，該鏡片使至少一部分的鐳射光束反射而沿第一路徑行進，且至少一部分的鐳射光束穿透鏡片而沿第二路徑行進。

其中，該鐳射測距儀更包含有一設于第一路徑的第一波長濾光鏡；以及一設于第二路徑的第二波長濾光鏡。

其中，該鐳射測距儀包含一殼體，該殼體內設有一發射通道及一接收通道，且該發射通道及接收通道間連通設有一副通道；該鐳射光源與光接收器分別設于發射通道與接收通道端部處，而該鏡片、第一波長濾光鏡與第二波長濾光鏡分別設于該發射通道、副通道與接收通道內。

其中，該鐳射光源與光接收器設于發射通道與接收通道的同側端部，且該副通道的兩端分別朝向鏡片與光接收器設置。

其中，該鏡片使第一波長的鐳射光束反射而沿第一路徑行進，且第二波長的鐳射光束穿透鏡片而沿第二路徑行進。

其中，該鐳射測距儀更包含有一設于第一路徑的第一波長濾光鏡。

其中，該鏡片設有一鍍膜層。

其中，該第一波長及第二波長的鐳射光束至少其中之一為可見光波長。

其中，該鐳射光源包含至少二不同波長的二極體晶片，且該等二極體晶片設置于同一封裝體內。

通過上述結構，本實用新型的技術效果如下：

1、鐳射光源只需切換發射不同波長的鐳射光束，即可利用該鏡片分別產生參考光束與測量光束，且鐳射光源工作條件一致、鐳射光束不易產生誤差，具有作動時間、反應快速、精度高、不易受環境條件影響等優點。

2、第一路徑與第二路徑上進一步可設有對應第一波長及第二波長鐳射光束的第一波長濾光鏡與第二波長濾光鏡，以達到過濾不必要的光源、純化鐳射光束及避免干擾產生的問題。