[實用新型]自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220166006.2
• 申請日: 2012-04-18
• 公開（公告）號: CN202649402U
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發(fā)明（設計）人: 佘國源
• 申請（專利權）人: 廣州市三才通訊科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R23/02;G01R31/01;G05B19/418
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 李新林

技術領域

本實用新型涉及晶體振蕩器的測試技術，更具體地涉及一種自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統(tǒng)。

背景技術

目前的恒溫溫箱，有些型號有溫度點程序設定，可以在某個溫度點設定保溫時間長度，當保溫時間完成后，自動進入下一個設置溫度點。對于少量的晶振樣品溫度特性測試，現(xiàn)有的測試方式一般是采用人工測試，溫箱運行也人工控制，晶振的頻率也是人工測試，效率低下，也容易出錯。對于批量的晶振溫度特性測試，由于晶振的數(shù)量是變化的，由于測試所需要的時間長度不固定，因此恒溫溫箱的保溫時間長度也不能固定，然而現(xiàn)有技術沒有將測試情況實時反映到恒溫溫箱表頭上，兩者脫節(jié)，不能實現(xiàn)自動化測試，因此也同樣存在效率低下，容易出錯等缺陷。

鑒于此，有必要提供一種高效率、高準確度的自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統(tǒng)。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的是提供自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統(tǒng)以提高測試效率和測試結果的準確度。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型所采用的技術方案為：提供一種自動測量批量晶體振蕩器溫度特性的測試系統(tǒng)，其包括放置有批量待測晶體振蕩器的恒溫溫箱、用于測試晶體振蕩器晶振頻率的頻率測試設備、與所述恒溫溫箱和頻率測試設備相連以控制所述恒溫溫箱和頻率測試設備的控制裝置以及與所述控制裝置相連以控制所述控制裝置的外部控制設備，所述控制裝置設置有一級控制電路，所述恒溫溫箱內(nèi)設置有用于控制所述恒溫溫箱內(nèi)部環(huán)境的恒溫溫箱控制表頭及若干設置有待測晶振節(jié)點的測試板，每個所述測試板上還設置有二級控制電路，所述二級控制電路與所述一級控制電路相連。

其進一步技術方案為：所述一級控制電路包括一級總控單片機、信號驅(qū)動電路、TTL/485信號轉(zhuǎn)換電路、第一和第二RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置、第一和第二八選一通道開關及若干開關K1～K8，所述開關K1～K8均受控于所述一級總控單片機，所述一級總控單片機的信號輸入端通過開關K1和第一RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述外部控制設備，通過開關K3和所述第一八選一通道開關連接至所述二級控制電路的輸出端，通過開關K7和所述TTL/485信號轉(zhuǎn)換電路連接至所述恒溫溫箱控制表頭，通過開關K6和第二RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述頻率測試設備，所述一級總控單片機的信號輸出端通過開關K4和所述第一RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述外部控制設備，通過開關K2和所述信號驅(qū)動電路連接至所述二級控制電路的輸入端，通過開關K8和所述TTL/485信號轉(zhuǎn)換電路連接至所述恒溫溫箱控制表頭，作為所述第二八選一通道開關的地址片選信號以控制下級各路頻率有選擇地輸入至所述頻率測試設備。

其進一步技術方案為：所述二級控制電路包括二級總控單片機、地址驅(qū)動電路、地址片選電路、與非門、第一和第二三八譯碼裝置以及第三和第四八選一通道開關，所述二級總控單片機受控于來自所述一級控制電路的TTL信號，所述二級總控單片機的輸出端與所述地址片選電路相連，所述地址片選電路的輸出端同時與所述地址驅(qū)動電路、第一三八譯碼裝置以及第三八選一通道開關相連，所述第一三八譯碼裝置的輸出端同時與所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關相連，所述第二三八譯碼裝置的輸出端連接至所述與非門的一輸入端，所述與非門的另一輸入端與被測晶體振蕩器相連，所述與非門的輸出端通過所述第四八選一通道開關與所述第三八選一通道開關相連，所述地址驅(qū)動電路的輸出端連接至所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關。

其進一步技術方案為：所述一級總控單片機為帶有EEPROM的單片機，該EEPROM內(nèi)存儲有用于指定所述一級總控單片機所管轄晶體振蕩器范圍的ID編碼。

其進一步技術方案為：所述第一和第二RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置均采用MAX232CPE芯片來實現(xiàn)。

其進一步技術方案為：所述二級總控單片機為帶有EEPROM的單片機，該EEPROM內(nèi)存儲有用于指定該二級總控單片機所管轄晶體振蕩器范圍的ID編碼。

其進一步技術方案為：所述第一、第二、第三和第四八選一通道開關均采用CD74HC4051E芯片來實現(xiàn)。

其進一步技術方案為：所述信號驅(qū)動電路和地址驅(qū)動電路均采用74LS244芯片來實現(xiàn)。

其進一步技術方案為：所述第一和第二三八譯碼器均采用CD74HC4051E芯片來實現(xiàn)。

其進一步技術方案為：所述一級控制電路連接有LCD顯示屏以顯示測試狀態(tài)。