[實用新型]冷鏡式低露點測量儀

有效

• 申請號: 201220150361.0
• 申請日: 2012-04-11
• 公開（公告）號: CN202693461U
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 章嘯
• 申請（專利權）人: 章嘯
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種測定低露點的冷鏡式露點測量儀，可以在高溫環境下準確快速測定低濕度氣體露點。

背景技術

現有典型的冷鏡式露點儀，其測定原理和過程為：半導體制冷器對密閉露點室內的反射鏡面制冷，當溫度達到流經露點室的氣體的露點時，氣體中的水分在鏡面結露，光電檢測系統檢測到結露的同時，鉑電阻測定鏡面的溫度即為測定氣體的露點。然而在高溫的夏季進行小于60度的低露點測定時，由于外界溫度高，半導體制冷器所產生的熱量傳導到露點室外殼后不能及時散失，導致半導體制冷效率低，長時間都不能達到露點溫度，從而不能完成測量。

因此，如何進一步降低半導體制冷片在高溫環境下的制冷溫度，是低露點氣體含水量測量需要解決的問題。

實用新型內容

為解決上述問題，本實用新型提供了一種冷鏡式低露點測量儀。對現有冷鏡式露點儀的制冷系統做了很大的改進。

本實用新型提供的冷鏡式低露點測量儀由露點室、制冷系統和控制系統組成。所述的露點室由旋蓋和基座組成，旋蓋內裝有光電檢測器，基座內裝有反射鏡面。所述的制冷系統為雙制冷系統，包括鏡面制冷系統和基座制冷系統，其中鏡面制冷系統用于對露點室內的鏡面制冷，基座制冷系統用于對冷鏡室基座制冷。所述的鏡面制冷系統包括半導體制冷片和散熱片，半導體制冷片的制冷端與露點室的鏡面連接，熱端與散熱片連接，散熱片與露點室基座內壁緊密連接。所述的基座制冷系統包括半導體制冷片、散熱片和風扇，半導體制冷片的制冷端與露點室基座的外壁連接，熱端與散熱片連接，散熱片與風扇連接。

與現有的冷鏡式露點儀相比，本實用新型提供的冷鏡式低露點測量儀由于增加了基座制冷系統，可以在高溫環境中將冷鏡室外殼的溫度控制在-10℃到0℃之間，從而有利于鏡面制冷系統熱端熱量的快速交換，使得鏡面制冷溫度在環境溫度在超過40℃時人能達到-70℃。

附圖說明

圖1為本實用新型冷鏡式低露點測量儀的露點室及制冷系統結構示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖與具體實例進一步說明本實用新型的實施方式。本領域的技術人員可由本說明所揭示的內容了解本實用新型的功能和優點。本實用新型也可以通過其它不同的具體事例加以實施或應用。

本實用新型所述的冷鏡式低露點測量儀可以用于電力系統高壓開關絕緣氣體SF6的水分含量測定。

圖1是本實用新型的露點室及制冷系統結構示意圖。如圖所示，露點儀的露點室包括旋蓋(1)和基座(2)，旋蓋(1)內有光電檢測器(9)，用于檢測鏡面(3)的結露情況。鏡面制冷系統包括半導體制冷片(4)和散熱片(5)，半導體制冷片(4)的冷端與鏡面(3)連接，熱端與散熱片(5)連接，散熱片(5)與基座(2)底部的內壁緊密接觸，以通過基座散發制冷所產生的熱量。基座制冷系統包括半導體制冷片(6)、散熱片(7)和風扇(8)，半導體制冷片(6)的制冷端與露點室基座(2)底部的外壁連接，熱端與散熱片(7)連接，散熱片(7)與風扇(8)連接，以散失制冷所產生的熱量。

在測量過程中，鏡面制冷系統對反射鏡面制冷，制冷所產生的熱量與基座制冷系統的制冷端迅速發生熱量交換，從而可以使鏡面溫度迅速下降。基座制冷系統產生的熱量可以通過大功率的風扇與外界發生交換。由于通過兩級制冷，保證了在外界高溫環境下，露點室基體的溫度能維持在-10到0℃之間，鏡面制冷系統的制冷能力能穩定達到-70℃，因而在夏季戶外測定高壓開關絕緣氣體SF6氣體的極微量水分含量時，也能快速的測得準確的露點。