[實用新型]PON系統測試用光功率計用集成光組件

有效

• 申請號: 201220142425.2
• 申請日: 2012-04-07
• 公開（公告）號: CN202503512U
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 趙新民;段磊
• 申請（專利權）人: 重慶歐勝德光電科技有限公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08;H04Q11/00
• 代理公司: 重慶博凱知識產權代理有限公司 50212
• 代理人: 張先蕓

技術領域

本實用新型涉及無源光纖網絡技術領域，具體涉及一種PON系統測試用光功率計用集成光組件。

背景技術

目前FTTx網絡建設正成為國內外接入網建設的熱點。PON（Passive?Optical?Network：無源光纖網絡）接入網技術是業內公認的FTTx的最佳解決方案，這種技術可以使多個用戶共享單根光纖，從而使光分配網（ODN）中不需要使用任何有源器件，即不需要通過光電光（OEO）轉換，這種單點到多點的構架大大降低了網絡安裝、管理和維護成本。

參見圖2，PON系統中上行信號采用1310nm波長，下行信號采用1490nm和1550nm波長，分別以相反方向沿同一光纖傳輸。上行信號接入采用突發模式，線路上的光信號即為突發光信號，正確檢測出突發光信號就是需要檢測出發射機激活發光期間的平均光功率，而普通的標準光功率計只能正確測試連續的光信號，這樣如果使用傳統的光功率計（記錄一個采樣周期內的平均光功率）將不能得到正確的測試結果，從而給網絡的安裝維護帶來困難。

實用新型內容

　　針對現有技術存在的上述不足，本實用新型的目的在于提供一種能滿足PON系統功率測試要求用于光功率計檢測的專用集成器件，以提高產品性能，降低生產成本，提高生產效率，減小組件體積。

本實用新型采用的技術方案如下：一種PON系統測試用光功率計用集成光組件，包括光耦合器、波分復用器件；其特征在于，所述光耦合器為分光比2∶8的2×2光纖耦合器，所述光耦合器設有兩個標準光纖連接頭端口，以及分別連接同軸耦合結構和波分復用耦合結構的輸出端口；同軸耦合結構直接耦合上行光信號1310nm光探測器，波分復用器件分別耦合下行光信號1490和1550?nm波長的兩個光探測器。

PON系統中上行信號采用1310?nm波長，下行信號采用1490和1550?nm波長，分別以相反方向沿同一根光纖傳輸。本實用新型工作原理是通過2×2光耦合器，將下行（第一端口）和上行（第二端口）信號進行分光到第三端口和第四端口，第三端口采用波分復用（WDM）耦合結構對下行信號進行波分處理，使1490和1550?nm波長分別耦合不同的光探測器中，第四端口采用同軸耦合結構直接耦合1310nm光探測器。組件滿足以下幾點要求：（1）同時探測1310、1490和1550nm?三種波長的光發射；（2）實現光功率的在線測試；（3）能探測1310nm突發信號光功率。

如圖3所示：功率計采用兩頭結構，用雙向耦合器對測試線路進行20%分光，對上行信號（1310nm）分光后直接接入探測器進行功率探測。對于下行信號（1490nm和1550nm）分光后再用高隔離度的WDM將波長分開后再分別接入探測器進行功率探測。這樣就能同時探測三個波長的光功率，并且測量期間線路保持正常通信。

相比現有技術，本實用新型具有如下優點：

本實用新型的關鍵技術在于采用分光比2∶8的2×2光纖耦合器的分光特性，實現器件在線測試上下行光信號的功能；同時，設計了1490nm和1550nm下行光信號的波分復用耦合結構，使組件結構緊湊，各項技術指標達到用戶使用要求。具有產品性能可靠，組件體積小，生產成本低等優點。

附圖說明

圖1為本實用新型器件結構示意圖；

圖2為PON系統測試用光功率計的光路結構原理圖；

圖3?為本實用新型光纖耦合器加工制作示意圖；

圖4?為本實用新型波分復用腔體結構示意圖；

圖5?為本實用新型同軸管體結構示意圖；

圖6?為本實用新型波分復用耦合結構示意圖；

圖7為本實用新型同軸耦合結構圖；

圖8?為本實用新型組件工藝操作平臺示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對實用新型作進一步詳細說明。

如圖1所示，一種PON系統測試用光功率計用集成光組件，包括光耦合器、波分復用器件；所述光耦合器為分光比2∶8的2×2光纖耦合器，所述光耦合器的光纖接頭和金屬鋼針分別與三個PIN進行耦合固定；同軸耦合結構直接耦合上行光信號1310nm光探測器，波分復用器件分別耦合下行光信號1490和1550?nm波長的兩個光探測器。