[實用新型]一種探管磁通門調試臺

有效

• 申請號: 201220130387.9
• 申請日: 2012-03-30
• 公開（公告）號: CN202794576U
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 石峻峰;王清松;常永旺;劉海
• 申請（專利權）人: 中天啟明石油技術有限公司
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00;G01V3/40
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 黃磊

1.一種探管磁通門調試臺，其特征在于，包括底架和設置在底架上部的調試臺主體，所述調試臺主體包括負載夾具、底板、角度工況板、地磁傾角工況板和V型支架；角度工況板、地磁傾角工況板和V型支架都固定在底板上，角度工況板和V型支架在底板上的固定安裝位置相互垂直，地磁傾角工況板和V型支架在底板上的固定安裝位置相互垂直；角度工況板和地磁傾角工況板分別通過旋轉銷軸和底板相連，繞著旋轉銷軸旋轉來調整方位角度；負載夾具放在V型支架、角度工況板或者地磁傾角工況板上。

2.根據權利要求1所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述地磁傾角工況板下端安裝有下擋板。

3.根據權利要求1所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述地磁傾角工況板兩側設有定位擋板和定位頂絲。

4.根據權利要求1所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述底板上鑲有互相垂直的豎定位板和橫定位板。

5.根據權利要求1所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述調試臺主體還包括安裝在底板與底架之間的俯仰微調裝置。

6.根據權利要求5所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述俯仰微調裝置包括調整軸、壓蓋、底座、第一微調單元和第二微調單元；調整軸通過壓蓋與底座連為一體；第一微調單元設在底板的上方，第二微調單元設在底板的下方。

7.根據權利要求6所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述第一微調單元為一對相匹配的球面墊圈和錐面墊圈；所述第二微調單元為一對相匹配的球面墊圈和錐面墊圈。

8.根據權利要求1所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述地磁傾角工況板底部的兩側設有方位頂絲和球面頂絲。

9.根據權利要求1所述的探管磁通門調試臺，其特征在于，所述底架為三角形底架。