[實用新型]一種光標測試機構有效
| 申請號: | 201220130121.4 | 申請日: | 2012-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN202501976U | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 胡海明 | 申請(專利權)人: | 胡海明 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 326508 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光標 測試 機構 | ||
【權利要求書】:
1.一種光標測試機構,其特征在于:所述移動板的相鄰兩側各設有驅動移動板縱、橫向移動的沖擊構件,與沖擊構件相對應的移動板另一相鄰兩側面設有復位彈簧,所述移動板上方設有放置鼠標的固定盤,固定盤嵌入于機座板通孔內。
2.根據權利要求1所述的一種光標測試機構,其特征在于:所述沖擊構件包括經電源通過單片機系統控制相連接的線圈、電磁鐵、擊打桿和彈簧。
3.根據權利要求2所述的一種光標測試機構,其特征在于:所述設置在線圈中的電磁鐵頂部設有限位件,在限位件與線圈頂端間置有彈簧,電磁鐵下端連接擊打桿,擊打桿接觸于移動板側面。
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于胡海明,未經胡海明許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220130121.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種用于機械鉆床的上置平移控制照明裝置
- 下一篇:半導體燈





