[實(shí)用新型]一種帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220110814.7
• 申請日: 2012-03-22
• 公開（公告）號: CN202512901U
• 公開（公告）日: 2012-10-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 童煒
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 王敏杰

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及儲存器測試設(shè)備，尤其是一種帶頻率測試功能的儲存器測試設(shè)備。

背景技術(shù)

半導(dǎo)體自動化測試系統(tǒng)（ATE）,?用于檢測集成電路功能的完整性,?為集成電路生產(chǎn)制造的最后流程,?以確保集成電路生產(chǎn)制造的品質(zhì)。現(xiàn)有的半導(dǎo)體自動化測試系統(tǒng)（ATE）通用工作原理，是針對被測存儲器芯片進(jìn)行選址后，通過輸入輸出管腳上的電平信號，讀寫數(shù)據(jù)到測試機(jī)內(nèi)部的比較器，對比預(yù)期值和實(shí)測邏輯值獲得PASS/FAIL的結(jié)果的測試過程。由于該特性，使得這類測試設(shè)備的輸入、輸出通道上，并不具備頻率測試功能。如果遇到存儲器測試中部分頻率測試需求，必須使用額外的邏輯測試系統(tǒng)來進(jìn)行頻率測試的第二道測試工序。增加了很大的測試成本和測試工藝復(fù)雜程度，測試周期相對重復(fù)了2次。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對現(xiàn)有的半導(dǎo)體自動化測試系統(tǒng)在存儲器測試過程中存在的上述問題，本實(shí)用新型提供一種帶頻率測試功能的儲存器測試設(shè)備。

本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)手段為：

一種帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，包括存儲器測試設(shè)備，所述存儲器測試設(shè)備包括測試模塊和測試引腳，所述存儲器測試設(shè)備的測試模塊與所述存儲器測試設(shè)備的測試引腳連接，其中，還包括控制模塊、控制開關(guān)和頻率測試模塊；所述控制模塊與所述存儲器測試設(shè)備的測試模塊、所述控制開關(guān)及所述測試引腳分別連接，所述控制開關(guān)與所述存儲器測試設(shè)備的測試模塊及所述頻率測試模塊分別連接，所述頻率測試模塊與所述測試引腳連接。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述頻率測試模塊包括輸入輸出單元、波形整形單元、分頻單元、信號源和頻率測試單元；所述輸入輸出單元與所述控制開關(guān)、波形整形單元以及所述測試引腳分別連接，所述波形整形單元與所述分頻單元連接，所述分頻單元與所述信號源及所述頻率測試單元分別連接；所述頻率測試單元與所述輸入輸出單元和所述控制模塊連接。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述頻率測試單元與所述輸入輸出單元之間設(shè)有并行轉(zhuǎn)串行部件，所述并行轉(zhuǎn)串行部件與所述控制模塊連接。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述波形整形單元主要由高速斯密特觸發(fā)器形成。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述信號源主要由可編程頻率合成器形成。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述分頻單元主要由鎖相環(huán)電路形成。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述頻率測試單元主要由D觸發(fā)器、一對可控計(jì)數(shù)器和一數(shù)據(jù)處理部件形成，所述D觸發(fā)器的D端與一脈沖發(fā)生部件連接，所述D觸發(fā)器的CP端與所述分頻單元連接，所述D觸發(fā)器的Q端分別與一對所述可控計(jì)數(shù)器的控制端連接，一對所述可控計(jì)數(shù)器其中之一的輸入端與所述信號源連接，其中另一的輸入端與所述分頻單元連接，一對所述可控計(jì)數(shù)器的輸出端分別與所述數(shù)據(jù)處理部件連接，所述處理部件與所述輸入輸出單元連接。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述輸入輸出單元、波形整形單元、分頻單元以及所述頻率測試單元主要由一可編程邏輯器件通過編程的方式形成。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述頻率測試單元與所述并行轉(zhuǎn)串行部件之間設(shè)有緩存部件。

上述帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備，其中，所述并行轉(zhuǎn)串行部件與所述存儲器測試設(shè)備的測試模塊連接。

本實(shí)用新型的有益效果是：

擴(kuò)展了存儲器測試設(shè)備品的頻率測試功能，使得測試存儲器芯片常規(guī)測試項(xiàng)目和頻率測試能在同一臺設(shè)備上一次連續(xù)測試完成。電路結(jié)構(gòu)簡單，成本低廉，安裝無需改動元存儲器測試設(shè)備硬件，頻率范圍大，精度高，不需對接口編程，不影響引腳正常測試功能，可以兼容各種存儲器測試設(shè)備。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型一種帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備的電路原理圖；

圖2是本實(shí)用新型一種帶頻率測試功能的存儲器測試設(shè)備的頻率測試單元的電路原理圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，但不作為本實(shí)用新型的限定。