[實(shí)用新型]過孔尺寸測(cè)試輔助裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220105799.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202547625U | 公開(公告)日: | 2012-11-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石宇;黎潔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B21/10 | 分類號(hào): | G01B21/10 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 尺寸 測(cè)試 輔助 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及印刷電路板,尤其涉及一種便于測(cè)試印刷電路板上過孔尺寸的輔助裝置。
背景技術(shù)
目前,印刷電路板(printed?circuit?board,PCB)上一般設(shè)置有若干不同類型及尺寸,例如直徑為10±3密爾(mil,相當(dāng)于0.001英寸)、直徑為14±3mil、直徑為35±3mil的鍍銅過孔(Plated?Via),以滿足不同的信號(hào)走線需求。當(dāng)需要檢測(cè)一批PCB上的過孔尺寸是否符合偏差要求,以判斷這批PCB板是否滿足客戶需求時(shí),必須從這批PCB中選擇樣品剖開,再對(duì)過孔的橫截面積進(jìn)行量測(cè)。顯然,該種方式必須破壞作為測(cè)試樣品的PCB,從而造成浪費(fèi)。
實(shí)用新型內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容,有必要提供一種可對(duì)PCB過孔進(jìn)行有效量測(cè)的過孔尺寸測(cè)試輔助裝置。
一種過孔尺寸測(cè)試輔助裝置,適用于一設(shè)置有若干不同類型的過孔的印刷電路板;所述過孔尺寸測(cè)試輔助裝置包括板體,所述板體上設(shè)置有與所述若干不同類型的過孔一一對(duì)應(yīng)的若干測(cè)試孔,通過剖開該板體,以露出該板體上的各種類型的測(cè)試孔的橫截面,進(jìn)而分別對(duì)每一類型測(cè)試孔的尺寸進(jìn)行測(cè)量,以判斷與該類型測(cè)試孔相應(yīng)的印刷電路板上的過孔的尺寸是否符合規(guī)范。
優(yōu)選地,所述板體位于所述印刷電路板的一側(cè),且與該印刷電路板一體設(shè)置。
優(yōu)選地,所述板體獨(dú)立于該印刷電路板設(shè)置。
優(yōu)選地,所述若干測(cè)試孔的大小及形狀互不相同。
上述過孔尺寸測(cè)試輔助裝置在測(cè)試該印刷電路板上的過孔尺寸時(shí),僅需將所述板體剖開,進(jìn)而對(duì)設(shè)置于其上的測(cè)試孔的尺寸進(jìn)行測(cè)試,便可得知該印刷電路板上相應(yīng)的過孔規(guī)格是否符合標(biāo)準(zhǔn)。本實(shí)用新型的過孔尺寸測(cè)試輔助裝置在測(cè)試所述過孔的尺寸時(shí),無需破壞該印刷電路板,使得分板后的印刷電路板可繼續(xù)使用,避免造成浪費(fèi)。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型較佳實(shí)施方式的過孔尺寸測(cè)試輔助裝置的示意圖。
圖2為圖1所示過孔尺寸測(cè)試輔助裝置中測(cè)試孔的尺寸示意圖。
主要元件符號(hào)說明
如下的具體實(shí)施方式將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說明本實(shí)用新型。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖1,本實(shí)用新型較佳實(shí)施方式提供一種過孔尺寸測(cè)試輔助裝置100,適用于一印刷電路板(printed?circuit?board,PCB)200。該P(yáng)CB200上設(shè)置有多種不同類型及尺寸,例如直徑為10±3密爾(mil)、直徑為14±3mil、直徑為35±3mil的過孔(Plated?Via)201,以滿足不同的信號(hào)走線需求。該過孔尺寸測(cè)試輔助裝置100用以輔助測(cè)試該P(yáng)CB200的過孔201是否符合規(guī)范。
該過孔尺寸測(cè)試輔助裝置100包括板體11。所述板體11可獨(dú)立于該P(yáng)CB200設(shè)置,亦可與該P(yáng)CB200一體設(shè)置。在本實(shí)施例中,該板體11大致呈矩形條狀,其位于在所述PCB200的一側(cè),且與該P(yáng)CB200一體設(shè)置。該板體11上設(shè)置有多種不同尺寸的測(cè)試孔111,所述測(cè)試孔111的形狀及物理尺寸分別與該P(yáng)CB200上不同形狀及尺寸的過孔201一一對(duì)應(yīng)。
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