[實用新型]一種偏光片的外觀缺陷檢測系統有效
| 申請號: | 201220062830.3 | 申請日: | 2012-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN202502054U | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 鄧元龍;李學金;劉飛飛 | 申請(專利權)人: | 深圳大學 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268 | 代理人: | 劉文求;楊宏 |
| 地址: | 518060 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 偏光 外觀 缺陷 檢測 系統 | ||
技術領域
?本實用新型屬于液晶顯示器件技術領域,特別涉及一種偏光片的外觀缺陷檢測系統。
背景技術
目前,以TFT-LCD(Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display,薄膜場效應晶體管液晶顯示器)為代表的平板液晶顯示器應用廣泛,它在亮度、對比度、功耗、壽命、體積、重量等綜合性上已超過CRT(Cathode?Ray?Tube,陰極射線管)的顯示器件,它具有性能優良、大規模生產特性好,自動化程度高,原材料成本低廉,發展空間廣闊等特點。
TFT-LCD的結構原理圖如圖1所示,其包括表面反射11、偏光片12、彩色濾光片13、背光源14、導光板15和反射膜16,其中液晶、玻璃和偏光片是TFT-LCD的三種基本組成元件,從圖1可看出每一個液晶顯示器需要兩塊偏光片,約占液晶面板原材料制造成本的10%左右。偏光片的結構如圖2所示,包括保護膜(Protective?Film)121、TAC膜(Triacetyl?Cellulose)122、PVA膜(Polyvinyl?Alcohol)123、感壓膠(Pressure?Sensitive?Adhesive)124和離型膜(Separate?Film)125。
TFT-LCD偏光片的基本性能包括光學性能、耐久性、粘接特性、外觀性能和其他特殊技術指標要求。偏光片對液晶顯示器的亮度、對比度、可視角等光學性能有著重要的影響,其視覺缺陷(外觀缺陷)會直接導致液晶顯示器不合格。偏光片外觀缺陷(外觀欠點)種類繁多,缺陷產生的原因也各異。根據缺陷所處的位置可以分為基板缺陷、糊面缺陷、保護膜缺陷等;根據缺陷的外觀特征可以分為異物、劃傷、折痕、打痕、氣泡等缺陷。據廠家不完全統計,根據位置和外觀的不同,偏光片外觀缺陷大約可以劃分為50余種。
目前,對偏光片光學性能檢測技術的研究較為集中,而外觀缺陷檢測仍然普遍采用人工方法,如圖3a和圖3b所示,由燈光110照射偏光片12,通過人眼130進行分辨。由于人眼目視分辨的最小極限約為150μm,所以以上缺陷二維尺寸大于150μm的才認為是需要檢測的外觀欠點。由于人工檢測方法勞動強度大,容易受到人眼分辨能力和易疲勞等主觀因素的影響,其差異性大;而且檢測速度慢,自動化程度很低。據統計:對于幾百毫米幅度的偏光片外觀缺陷檢測,一個非常熟練的工人,一天最多可以檢驗800-1000片,因此,這種偏光片外觀缺陷的方式不能適應大批量生產的要求。
針對上述人工檢測存在的問題,一些偏光片廠逐步引入離線或在線的自動檢測技術,即采用CCD(Charge-coupled?Device,電荷耦合元件)或CMOS(Complementary?Metal?Oxide?Semiconductor,互補金屬氧化物半導體)圖像采集器件代替圖3a和圖3b中的人眼,并利用計算機對采集到的圖像進行處理,通過圖像采集器件來獲取外觀缺陷的類型、大小及分布等信息。該自動檢測系統如圖4所示,一般采用平面或線性均勻光源24照明,由圖像采集器件21獲取圖像,工作臺23在計算機20控制下對偏光片12線性掃描,從而合成整幅偏光片圖像。之后在計算機中進行各種數字圖像處理,最終得到偏光片外觀缺陷的類型、大小和分布。此類型方案圖像分辨率可以很高,但是由于存在較大范圍的連續掃描環節,檢測速度難以進一步提高。更嚴重的問題是:在所獲取的偏光片數字圖像中,微小的外觀缺陷(如150μm~1mm)通過圖像采集器件采集后,缺陷很不明顯,有些類型的外觀缺陷甚至完全觀測不到,這使得后續圖像處理的難度大大增加,圖像處理的速度也難以提高。可見,現有偏光片的檢測方法不但檢測速度低,而且檢出的準確率也不高。
實用新型內容
鑒于上述現有技術的不足之處,本實用新型的目的在于提供一種偏光片的外觀缺陷檢測系統,能放大偏光片的外觀缺陷特征,通過人眼即可輕松辨別出偏光片的外觀缺陷,從而提高偏光片檢測準確率和速度。
為了達到上述目的,本實用新型采取了以下技術方案:
一種偏光片的外觀缺陷檢測系統,其包括:
用于發光的光源;
用于透過光源發出的光線,放大偏光片的外觀缺陷特征的缺陷放大裝置;
所述缺陷放大裝置位于光源和偏光片之間。
上述的偏光片的外觀缺陷檢測系統中,還包括:
用于采集放大外觀缺陷特征后的偏光片圖像的圖像采集裝置;
用于對圖像采集裝置采集的偏光片圖像進行處理,并判斷偏光片是否存在缺陷的圖像處理裝置;
所述圖像采集裝置位于偏光片的一側,并與所述圖像處理裝置連接。
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