[發明專利]顆粒物及元素的檢測裝置及方法

無效

• 申請號: 201210598590.3
• 申請日: 2012-12-29
• 公開（公告）號: CN103091344A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 姜雪嬌;胡亞軍;劉韜;胡杰;葉華俊
• 申請（專利權）人: 聚光科技(杭州)股份有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N23/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.顆粒物及元素的檢測裝置，其特征在于：所述檢測裝置包括：

一個發射單元，所述一個發射單元用于發射出β射線，以及X射線或γ射線或質子流或中子流，所述一個發射單元內的發射源僅有一個；

第一檢測單元，所述第一檢測單元用于將穿過待測樣本的所述β射線轉換為第一電信號，并傳送到分析單元；

第二檢測單元，所述第二檢測單元用于將所述X射線或γ射線或質子流或中子流在所述待測樣本上激發出的熒光轉換為第二電信號，并傳送到分析單元；

分析單元，所述分析單元用于處理接收到的所述第一電信號，從而獲知所述待測樣本中顆粒物的含量，以及用于處理接收到所述第二電信號，從而獲知所述待測樣本中的元素含量。

2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述發射單元進一步包括：

轉換模塊，所述轉換模塊用于將所述發射源發射出的X射線或γ射線轉換為β射線。

3.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述轉換模塊是光陰極材料。

4.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述檢測裝置進一步包括：

濾除模塊，所述濾除模塊用于濾除所述發射單元發射出的X射線或γ射線或β射線。

5.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述檢測裝置進一步包括：

承載單元，所述承載單元用于承載所述待測樣本，并適于所述β射線的穿過。

6.根據權利要求5所述的檢測裝置，其特征在于：所述檢測裝置進一步包括：

取樣單元，所述取樣單元用于取樣待測環境內的氣體，所述承載單元分時間地處于所述取樣單元內的氣體通道上，以富集氣體中的顆粒物及元素。

7.根據權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于：所述承載單元是微孔濾膜。

8.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述發射源是放射性核素。

9.顆粒物和元素的檢測方法，所述檢測方法包括以下步驟：

(A1)僅有的一個發射源同時或分時間地發射出β射線，以及X射線或γ射線或質子流或中子流；或者僅發射出X射線或γ射線，通過轉換模塊將X射線或γ射線轉換為β射線；

(A2)第一檢測單元將穿過待測樣本的所述β射線轉換為第一電信號，并傳送到分析單元；

第二檢測單元將所述X射線或γ射線或質子流或中子流在所述待測樣本上的熒光轉換為第二電信號，并傳送到分析單元；

(A3)分析單元同時或分時間地處理接收到的所述第一電信號、第二電信號，從而獲知所述待測樣本中的顆粒物和/或元素含量。

10.根據權利要求9所述的檢測方法，其特征在于：所述檢測方法進一步包括以下步驟：

(B1)使用微孔濾膜富集氣體取樣通道內的顆粒物及元素。