[發明專利]一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法及其應用有效
| 申請號： | 201210594906.1 | 申請日： | 2012-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN103093425A | 公開（公告）日： | 2013-05-08 |
| 發明（設計）人： | 張天序;劉立;關靜;周鋼;左芝勇;朱生國;王正;何力 | 申請（專利權）人： | 華中科技大學 |
| 主分類號： | G06T5/00 | 分類號： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 氣動 熱輻射 指紋 建立 方法 及其 應用 | ||
1.一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，用于確定紅外成像系統在氣動熱輻射環境下成像的熱輻射圖像的退化規律，以利用其對紅外成像系統的熱輻射圖像進行校正，其具體包括：
（1）獲取紅外成像系統的多幅氣動熱輻射退化圖像，形成氣動熱輻射退化圖像序列，其中每一幅氣動熱輻射退化圖像對應相應的熱流密度；
（2）求取氣動熱輻射退化圖像序列中的每一幅圖像與基準圖像之差值，確定為每一幅圖像的差值圖像；
（3）對所述每一幅圖像的差值圖像進行二維曲面擬合，獲得其在對應熱流密度下的二維曲面多項式，從而形成多個二元多項式；
（4）對所述多個二元多項式中相同項的系數進行擬合處理，從而建立各相同項的系數關于熱流密度的關系式，即確定為氣動熱輻射指紋庫。
2.根據權利要求1所述的一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，其中，所述多個二元多項式中的相同項指各二元多項式中兩變量參數的冪次分別相等所構成的項。
3.根據權利要求2所述的一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，其中，所述系數關于熱流密度的關系式是通過對所述相同項的系數進行曲線擬合而得到的曲線方程。
4.根據權利要求1-3中任一項所述的一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，其中，所述二維曲面多項式為其中，(x,y)為圖像坐標，x和y也即二元多項式的兩個變量，aij(h)為二元多項式中的變量x和y的冪指數分別為i和j的項的系數，h為熱流密度，其中i和j均為非負整數。
5.根據權利要求4所述的一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，
其中，所述系數aij(h)關于熱流密度的關系式為其中pij,l為aij(h)二元多項式的第l個系數，m為二元多項式的最高冪指數。
6.根據權利要求4或5任一項所述的一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，其中，所述冪指數i和j取值優選滿足i+j≤4。
7.根據權利要求1-6中任一項所述的一種氣動熱輻射指紋庫的建立方法，其中，所述紅外成像系統的氣動熱輻射退化圖像通過電弧風洞試驗獲取。
8.一種應用權利要求1-7中任一項所述方法建立的氣動熱輻射指紋庫對紅外成像系統的熱輻射圖像進行校正的方法，包括：
對于任意熱流密度，從所述氣動熱輻射指紋庫獲得相應的關系式的步驟；
根據該關系式獲得對應的差值圖像的步驟；和
利用所述差值圖像對所述熱輻射圖像進行校正的步驟。
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