[發明專利]數字類電子表芯片測試儀

有效

• 申請號: 201210593692.6
• 申請日: 2012-12-31
• 公開（公告）號: CN103064012A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 方盼
• 申請（專利權）人: 深圳安博電子有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317;G01R31/3177
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種數字類電子表芯片測試儀，其特征在于，包括：

探針臺（1）；

探針卡（2）；

主控芯片（3）；

測試晶圓芯片的管腳上的保護二極管是否完好的OS參數測試電路（41），所述OS參數測試電路（41）的測試端接所述探針卡（2）、受控端接所述主控芯片（3）的OS參數測試控制端、輸出端接所述主控芯片（3）的OS參數測試端；

測試晶圓芯片在上電且有時鐘的情況下工作時的功耗的IDD參數測試電路（42），所述IDD參數測試電路（42）的測試端接所述探針卡（2）、輸出端接所述主控芯片（3）的IDD參數測試端；

測試晶圓芯片的工作頻率的頻率參數測試電路（43），所述頻率參數測試電路（43）的測試端接所述探針卡（2）、受控端接所述主控芯片（3）的頻率參數測試控制端、輸出端接所述主控芯片（3）的頻率參數測試端；

測試晶圓芯片的邏輯功能的邏輯功能測試電路（44），所述邏輯功能測試電路（44）的測試端接所述探針卡（2）、輸出端接所述主控芯片（3）的邏輯功能測試端；

顯示所測試的晶圓芯片的參數信息的顯示電路（6），所述顯示電路（6）接所述主控芯片（3）的顯示輸出端；

輸入控制信號的按鍵輸入電路（7），所述按鍵輸入電路（7）接所述主控芯片（3）的按鍵輸入端；

將所述主控芯片（3）的控制信號傳輸至所述探針臺（1）的TTL接口電路（8），所述TTL接口電路（8）接所述主控芯片（3）的探針臺控制端。

2.如權利要求1所述的數字類電子表芯片測試儀，其特征在于，所述OS參數測試電路（41）包括：

第一運算放大器U14A、第二運算放大器U14D、CD4051模擬開關U13、電阻R21、電阻R22、電阻R23、滑動電阻R24；

所述第一運算放大器U14A的同相輸入端通過所述電阻R22接5V電源、反相輸入端通過所述電阻R21接地、正電源端接5V電源、負電源端接-5V電源、輸出端通過所述電阻R23接其反相輸入端、輸出端通過所述滑動電阻R24的第一定端，

所述滑動電阻R24的滑動端接其第一定端，

所述第二運算放大器U14D的同相輸入端接所述滑動電阻R24的第二定端、輸出端接其反相輸入端以及所述第一運算放大器U14A的同相輸入端；

所述CD4051模擬開關U13的電源腳VDD接5V電源、負電壓腳VEE接-5V電源、禁止腳INH以及數字信號接地腳VSS接地、輸入輸出腳1-5作為所述OS參數測試電路（41）的測試端接所述探針卡（2）中對應于晶圓芯片的功能引腳的端口、地址腳A-C作為所述OS參數測試電路（41）的受控端接所述主控芯片（3）的DC參數測試控制端，公共輸入輸出腳OUT/IN作為所述OS參數測試電路（41）的輸出端接所述主控芯片（3）的OS參數測試端。

3.如權利要求1所述的數字類電子表芯片測試儀，其特征在于，所述IDD參數測試電路（42）包括第三運算放大器U15A、滑動電阻R25、電阻R26、電容C17；

所述滑動電阻R25的定端連接于5V電源以及地之間、滑動端接所述第三運算放大器U15A的同相輸入端，

所述電阻R26連接于所述第三運算放大器U15A的反相輸入端以及輸出端之間，

所述電容C17連接于所述第三運算放大器U15A的反相輸入端以及輸出端之間，

所述第三運算放大器U15A的同相輸入端作為所述IDD參數測試電路（42）的測試端接所述探針卡（2）中對應于晶圓芯片的電源引腳的端口、輸出端作為所述IDD參數測試電路（42）輸出端接所述主控芯片（3）的IDD參數測試端。