[發明專利]一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置及其校驗方法

有效

• 申請號: 201210593655.5
• 申請日: 2012-12-31
• 公開（公告）號: CN103019301A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 許勝宗;趙德建;張俊
• 申請（專利權）人: TCL通力電子（惠州）有限公司
• 主分類號: G06F1/04
• 分類號: G06F1/04
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

技術領域

本發明涉及電子產品領域，尤其涉及一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置及其校驗方法。

背景技術

隨著電子行業激烈競爭的加劇，廠家在不影響產品正常功能的前提下，需要考慮盡可能的降低產品生產成本，其中，包括對產品中硬件RTC（real?time?clock，實時時鐘）模組的節約等。但是，節約掉硬件RTC模組后，客戶又需要相應的實時時鐘功能，因此一種能模擬的RTC模組的實時時鐘功能的部件亟待開發。

眾所周知，MCU（Micro?Control?Unit，微控制單元）的Timer（計數器）本身就是一個計數器，當配置外部12M晶振作為MCU的Timer頻率源時，可以推算出Timer計數12M次就約等于單位時間1S；理論上，配置Timer的翻轉計數次數（即達到翻轉時所需的計數次數）為12000000次，也就是當Timer計數到12000000次的時候，又會重新翻轉到0計數，如此反復運行。現有技術中，采用電子產品中的MCU的Timer功能模擬和替代RTC模組的功能的方法很多。但是，在實際應用當中，由于晶振本身以及MCU運行時均有一定誤差，這導致這類方法和產品產生的誤差不一，MCU的計數器并不能得到精確的1S，存在實時誤差較大的問題。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置。

本發明的另一目的在于提供一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，旨在解決現有的MCU的計數器模擬實時時鐘功能時存在計時不精確的問題。

為了實現上述目的，本發明提供模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置，包括：

標桿模塊，用于將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；

獲取模塊，用于獲取所述標桿的標準翻轉計數次數；

調節模塊，用于根據獲取模塊獲取的所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。

優選的，所述調節模塊還用于根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節待校驗的MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。

一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，包括以下具體步驟：

將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；

根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。

優選的，所述根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的步驟之后還包括：

根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節其自身MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。

優選的，所述標桿的制作步驟包括：

（1）取一待校驗的MCU的計數器為待校驗標桿，且預先設置所述待校驗標桿的計數器1秒內的假定翻轉計數次數；

（2）將所述待校驗標桿與標準時間進行比對一定時長，獲取所述待校驗標桿的總誤差秒數，并計算出所述待校驗標桿的校正翻轉計數次數；

（3）將所述校正翻轉計數次數作為所述待校驗標桿的計數器1秒內的假定翻轉計數次數，重復執行步驟（2）及（3），直到所述總誤差秒數為零時，確定該待校驗標桿為標桿，并將所述校正翻轉計數次數作為所述標桿的標準翻轉計數次數。

優選的，上述步驟（2）中，所述計算包括：將所述總誤差秒數除以一定時長的總秒數再乘以所述假定翻轉計數次數，得出所述待校驗標桿1秒內的平均計數次數誤差，用所述假定翻轉計數次數減去平均計數次數誤差，得到所述待校驗標桿的校正翻轉計數次數。

優選的，所述確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的方法包括以下具體步驟：

所述標桿發送第一次脈沖給待校驗MCU的計數器，同時所述標桿的計數器開始計數，待校驗MCU的計數器接收到第一次脈沖后也開始計數；

所述標桿到達預定的測試時間后給待校驗MCU的計數器發送第二次脈沖，同時所述標桿的計數器停止計數，待校驗MCU的計數器接收到第二次脈沖后也停止計數；