[發明專利]使用了分布式X射線源的物品檢查裝置有效
| 申請號: | 201210588867.4 | 申請日: | 2012-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN103901057B | 公開(公告)日: | 2019-04-30 |
| 發明(設計)人: | 唐華平;李元景;趙自然;劉耀紅;秦占峰;張金宇;唐虎 | 申請(專利權)人: | 同方威視技術股份有限公司;清華大學 |
| 主分類號: | G01N23/04 | 分類號: | G01N23/04;G01V5/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 閆小龍;盧江 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 分布式 射線 物品 檢查 裝置 | ||
本發明涉及使用了分布式X射線源的物品檢查裝置,具有:機架;物品通道;物品傳送裝置;分布式X射線源,在每個工作周期內能夠以不同位置依次產生X射線;探測器陣列,用于接收來自分布式X射線源的X射線并輸出表征X射線強弱的信號;電子學系統,接收來自探測器的信號,將該信號轉換為數字信號,并與對應的探測器位置編號形成數據包,輸出將探測器陣列的多個探測器信號和位置編號形成的數據包序列;圖像處理系統,接收來自電子學系統的輸出,對探測器位置編號和對應的表征X射線強弱的信號進行處理,構建形成受檢查物品的圖像;射線源電源,用于對分布式X射線源供電;控制系統,用于對各分部件進行邏輯控制,使各分系統協調工作。
技術領域
本發明涉及X射線物品檢查裝置,特別涉及使用了分布式X射線源的物品檢查裝置。
背景技術
X射線物品檢查裝置是利用X射線透射成像的原理,對工業產品、行李包裹、人體部位等檢查對象進行透視成像,以獲取檢查對象的細微結構信息,從而達到缺陷判斷、危險品檢查、醫療診斷等目的的儀器設備。X射線物品檢查裝置在工業無損檢測、安全檢查、醫學診斷和治療等領域具有廣泛的應用。這類設備早期是膠片式的平面透視成像設備,目前的先進技術是數字化、多視角并且高分辯率的立體成像設備,如CT(computed tomography),可以獲得高清晰度的三維立體圖形或切片圖像,是一種高端應用。
在CT設備中(包括工業探傷CT、行李物品安檢CT、醫療診斷CT等),通常是將X射線源放置在受檢對象的一側,在受檢對象的另一側放置接收射線的探測器,當X射線穿過受檢對象時,其強度會隨受檢對象的厚度、密度等信息發生改變,探測器接收到的X射線的強弱就包含了受檢對象的一個視角方向的結構信息。如果再將X射線源和探測器圍繞受檢對象轉換位置,就可以獲得不同視角方向的結構信息。利用計算機系統和軟件算法對這些信息進行結構重建,就可以獲得受檢對象的立體圖像。目前的CT設備是將X射線源和探測器固定在圍繞受檢對象的圓形滑環上,在工作中每運動一圈,就得到受檢對象的一個厚度切面的圖像,將其稱為切片,受檢對象再沿厚度方向運動,得到一系列切片,這些切片綜合起來就是受檢對象的三維精細立體結構。因此,在現有的CT設備中,為了獲得不同的視角圖像信息,就要變換X射線源的位置,因此X射線源和探測器需要在滑環上運動,為了提高檢查速度,通常滑環運動速度非常高。由于X射線源和探測器在滑環上的高速運動,導致設備整體的可靠性和穩定性降低,此外,受運動速度的限制,CT的檢查速度也受到了限制。雖然近年來最新一代的CT采用圓周排列的探測器,可以使探測器不做運動,但是X射線源仍需要在滑環上運動,可以增加多排探測器,使X射線源運動一周,獲得多個切片圖像,從而提高CT檢查速度,但是,這并沒有從根本上解決在滑環上運動帶來的結構復雜、檢查速度低等問題。
此外,同方威視技術股份有限公司制造了一種產生分布式X射線的光源裝置,展示了一種通過熱陰極產生電子束流、低能掃描、限流產生陣列分布再高壓加速并打靶產生X射線的分布式X射線源。此外,還制造了一種陰控多陰極分布式X射線裝置,展示了一種多個陰極陣列按某種順序受控產生電子束流,被聚焦限流后再高壓加速并打靶產生X射線的分布式X射線源,并且可以是直線型或弧型結構。在本發明中利用這些分布式X射線源,通過靈活的結構布置,獲得多種可滿足不同應用要求的物品檢查裝置。
發明內容
本發明是為了解決上述課題而提出的,其目的在于提供一種使用了分布式X射線源的物品檢查裝置,能夠獲取受檢查對象的三維立體透視圖像信息。
本發明提供一種物品檢查裝置,其特征在于,具有:
機架;
物品通道,處于所述機架內,用于使受檢查物品通過;
物品傳送裝置,處于所述機架內并且位于所述物品通道的下方;
分布式X射線源,位于所述物品通道的上方,在每個工作周期內能夠以不同位置依次產生X射線;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于同方威視技術股份有限公司;清華大學,未經同方威視技術股份有限公司;清華大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210588867.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





