[發明專利]一種測試方法及系統有效
| 申請號: | 201210587731.1 | 申請日: | 2012-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN103092188B | 公開(公告)日: | 2018-01-12 |
| 發明(設計)人: | 劉惠娟 | 申請(專利權)人: | 派芬自控(上海)股份有限公司 |
| 主分類號: | G05B23/02 | 分類號: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 201206 上海市楊*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 方法 系統 | ||
技術領域
本發明涉及測試技術領域,更具體的說是涉及一種測試方法及系統。
背景技術
目前國內已有多家企業可以自行設計研發ECU(Electronic Control Unit,電子控制單元)控制器,但在生產工序上仍然缺乏對應的科技含量較高的測試環節。這也是制約國內ECU技術發展的瓶頸之一。
測試信號源箱為控制器的試驗用設備,現有的測試信號源箱僅包括每款控制器需要調試試驗用的測試單元,在具體測試時,則還需要根據不同的控制器型號更換相應的測試信號源箱,會使得測試過程繁瑣。
發明內容
有鑒于此,本案提出一種測試系統,技術方案如下:
一種測試方法,所述方法應用于一種測試系統,所述測試系統用于測試被測單元,所述測試系統包括測試信號源箱,以及與所述被測單元和所述測試信號源箱連接的上位機,所述測試信號源箱與所述被測單元連接,所述測試信號源箱包括至少一個測試單元,其中,每個所述測試單元包括至少一個測試模塊,所述方法包括:
所述測試單元接收所述上位機發出的包含有測試內容的測試指令,分析所述測試指令并將所述測試指令分配給與所述測試指令的測試內容相應的測試模塊,所述相應的測試模塊根據所述測試指令向所述被測單元輸出與所述測試內容相應的測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令;
所述上位機接收到所述測試已輸出指令后,向所述被測單元發出讀取端口狀態指令;
所述被測單元接收到所述讀取端口狀態指令,根據所述讀取端口狀態指令讀取端口狀態信息,并反饋給所述上位機所述端口狀態信息;
所述上位機通過比對所述輸出指令與所述端口狀態信息,生成測試結果。
優選的,在上述的測試方法中,所述測試指令包括:包含有開關量輸出測試內容的開關量輸出測試指令,或包含有脈沖寬度調制PMW輸出測試內容的PMW輸出測試指令,或包含有模擬量輸出測試內容的模擬量輸出測試指令;
所述測試模塊包括輸出測量模塊,所述輸出測量模塊包括開關量輸出測試模塊、PMW測試模塊和模擬量輸出測試模塊;
其中,所述相應的測試模塊根據所述測試指令向所述被測單元輸出與所述測試內容相應的測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令,包括:
所述開關量輸出測試模塊接收所述開關量輸出測試指令,根據所述開關量輸出測試指令向所述被測單元輸出開關量輸出測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令;
或,所述PMW測試模塊接收所述PMW輸出測試指令,根據所述PMW輸出測試指令向所述被測單元輸出PMW輸出測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令;
或,所述模擬量輸出測試模塊接收所述模擬量輸出測試指令,根據所述模擬量輸出測試指令向所述被測單元輸出模擬量輸出測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令。
優選的,在上述的測試方法中,所述測試指令包括:
包含有開關量輸入測試內容的開關量輸入測試指令,或包含有模擬量輸入測試內容的模擬量輸入測試指令,或包含有脈沖信號輸入測試內容的脈沖信號輸入測試指令;
所述測試信號源箱包括激勵測量單元,所述激勵測量單元包括開關量輸入測試模塊、模擬量輸入測試模塊和方波信號發生測試模塊;
其中,所述相應的測試模塊根據所述測試指令向所述被測單元輸出與所述測試內容相應的測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令,包括:
所述開關量輸入測試模塊接收所述開關量輸入測試指令,根據所述開關量輸入測試指令向所述被測單元輸出開關量輸入測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令的;
所述模擬量輸入測試模塊接收所述模擬量輸入測試指令,根據所述模擬量輸入測試指令向所述被測單元輸出模擬量輸入測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令;
所述方波信號發生測試模塊接收所述脈沖信號輸入測試指令,根據所述脈沖信號輸入測試指令向所述被測單元輸出脈沖信號輸入測試信號,并向所述上位機反饋測試已輸出指令。
優選的,在上述的測試方法中,所述上位機發出的包含有測試內容的測試指令,包括:
所述上位機中設置有包含多個測試表格的數據庫,所述上位機接收調用指令,并根據所述調用指令從所述數據庫中調用相應的測試表格,生成測試指令。
此外,本發明還提供一種測試系統,用于測試被測單元,所述測試系統包括:
測試信號源箱,以及與所述被測單元和所述測試信號源箱連接的上位機;
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