[發明專利]顯示裝置以及該顯示裝置的線缺陷的檢測方法

有效

• 申請號: 201210586854.3
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103680395A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 尹淳逸;吳彰浩;李寧熙
• 申請（專利權）人: 樂金顯示有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32;G09G3/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 呂俊剛;劉久亮

技術領域

本發明涉及一種顯示裝置，更具體地，涉及能夠防止驅動電力（drive?power）傳輸線中的缺陷并能防止這種缺陷對公共電極造成損害的一種顯示裝置以及該顯示裝置的線缺陷的檢測方法。

背景技術

顯示裝置，特別是發光二極管顯示裝置使用來自驅動電力傳輸線的驅動電力來激活像素中的發光元件。此類驅動電力通過多條驅動電力傳輸線被供應到所有像素。然而，由于外來物質或其他原因，在部分驅動電力傳輸線中可能會出現缺陷。示例性的缺陷包括由部分驅動電力傳輸線的損傷和開路造成的開路缺陷以及由相鄰的驅動電力傳輸線之間的短路造成的短路缺陷。

如果出現此種缺陷，則電流可能會集中于驅動電力傳輸線被共同連接到的公共電極，這可能造成諸如燒壞公共電極的極大的損害。

發明內容

因此，本發明致力于一種顯示裝置以及該顯示裝置中的線缺陷的檢測方法，其基本上消除了由于現有技術的限制和缺點而導致的一個或多個問題。

本發明的目的在于提供通過缺陷檢測線能夠提前檢測到驅動電力傳輸線的缺陷的一種顯示裝置以及該顯示裝置的線缺陷的檢測方法。

本發明的另外的優點、目的和特征將在以下描述中部分地闡述，并且對于本領域技術人員在研讀下文后將部分地變得明顯，或者可以從本發明的實踐獲知。可通過在所撰寫的說明書及其權利要求以及附圖中具體指出的結構來實現和獲得本發明的目的和其它優點。

為了實現這些目的和其他優點并根據本發明的目的，如在此具體實施并廣泛描述的，一種顯示裝置包括：多條驅動電力傳輸線，所述多條驅動電力傳輸線用于向像素傳送驅動電力；至少一條缺陷檢測線，所述至少一條缺陷檢測線與至少一條驅動電力傳輸線交叉；以及缺陷檢測器，所述缺陷檢測器用于向所述至少一條缺陷檢測線輸出缺陷檢測信號，根據所述缺陷檢測信號收集從缺陷檢測線生成的反饋信號，并且基于所述缺陷檢測信號與所述反饋信號之間的比較來確定是否在所述至少一條驅動電力傳輸線中存在缺陷。

優選地，所述至少一條缺陷檢測線的數量為1并且所述缺陷檢測線與所有的所述多條驅動電力傳輸線交叉。

優選地，所述顯示裝置還包括公共電極，所述公共電極連接到所述至少一條驅動電力傳輸線的一端，其中，所述缺陷檢測線位于像素所存在的像素區域與所述公共電極之間。

優選地，所述顯示裝置還包括至少一個傳導膜，其中，通過所述至少一個傳導膜向所述缺陷檢測線提供所述缺陷檢測信號，并且通過所述至少一個傳導膜向所述缺陷檢測器提供所述反饋信號。

優選地，所述至少一個傳導膜包括兩個或更多個傳導膜，所述缺陷檢測器通過所述缺陷檢測器的輸出端輸出所述缺陷檢測信號，并且通過所述缺陷檢測器的輸入端收集所述反饋信號，所述缺陷檢測線的一端通過一個傳導膜連接到所述缺陷檢測器的輸出端，并且所述缺陷檢測線的另一端通過另一個傳導膜連接到所述缺陷檢測器的輸入端。

優選地，沿所述缺陷檢測線的縱向方向布置傳導膜，并且在傳導膜中彼此相距最遠的傳導膜分別是所述一個傳導膜和所述另一個傳導膜。

優選地，在至少一個傳導膜中嵌入用于向像素提供數據信號的數據集成電路，并且未在其中嵌入所述數據集成電路的傳導膜分別是所述一個傳導膜和所述另一個傳導膜。

優選地，所述顯示裝置還包括：第一連接線，所述缺陷檢測線的一端與所述一個傳導膜通過所述第一連接線相互連接；以及第二連接線，所述缺陷檢測線的另一端與所述另一個傳導膜通過所述第二連接線相互連接，其中，所述第一連接線和所述第二連接線形成在同一層中，并且所述第一連接線和所述缺陷檢測線形成在不同的層中。

優選地，所述至少一條缺陷檢測線的數量為2，所述兩條缺陷檢測線是第一缺陷檢測線和第二缺陷檢測線，所述第一缺陷檢測線和所述第二缺陷檢測線與所有的所述多條驅動電力傳輸線交叉，并且所述第一缺陷檢測線和所述第二缺陷檢測線位于所述多條驅動電力傳輸線的不同部分。

優選地，所述顯示裝置還包括：第一公共電極，所述第一公共電極連接到所述驅動電力傳輸線的一端；以及第二公共電極，所述第二公共電極連接到所述驅動電力傳輸線的另一端，其中，所述第一缺陷檢測線位于像素所存在的像素區域與所述第一公共電極之間，并且所述第二缺陷檢測線位于所述像素區域與所述第二公共電極之間。

優選地，所述顯示裝置還包括至少一個傳導膜，其中，通過所述至少一個傳導膜向所述第一缺陷檢測線和所述第二缺陷檢測線提供缺陷檢測信號，通過所述至少一個傳導膜向所述缺陷檢測器提供來自所述第一缺陷檢測線的反饋信號，以及通過所述至少一個傳導膜向所述缺陷檢測器提供來自所述第二缺陷檢測線的反饋信號。