[發明專利]一種磁共振成像勻場方法

有效

• 申請號: 201210584671.8
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103901373A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 蔡昆玉
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/3875
• 分類號: G01R33/3875
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種磁共振成像勻場方法，包括以下步驟：

選定掃描序列對被成像組織掃描，獲得磁共振信號，進行圖像重建；

根據重建的圖像計算Harmonic系數；

使用Harmonic系數控制勻場線圈對磁場進行補償；

其特征在于，所述Harmonic系數的計算方法包括以下步驟：

a)根據閾值將圖像分為可靠區域、非可靠區域和背景區域;

b)根據可靠區域內的像素點對非可靠區域內的像素點進行插值計算，得到包括可靠區域和非可靠區域內所有像素點的纏繞相位圖；

c)以解纏種子點作為相位解纏的起始點，對所述纏繞相位圖作相位解纏，得出以解纏種子點為參考點的Harmonic系數；

d)將以解纏種子點為參考點的Harmonic系數轉換為以磁體中心為參考點的Harmonic系數。

2.如權利要求1所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，所述掃描序列為雙回波GRE序列。

3.如權利要求1所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，所述可靠區域內的纏繞相位圖按照以下計算公式獲取：

式中，I₁為第一個回波信號的像素點，I₂為第二個回波信號的像素點，A為像素點的幅值，為像素點的相位，PhaseMap₀為可靠區域的相位差圖，表示每一個像素點的纏繞相位。

4.如權利要求3所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，所述像素點的幅值A依據如下公式計算：根據像素點幅值A計算Ostu自適應閾值得到所述閾值，其中，A₁和A₂分別為兩個回波信號的幅值。

5.如權利要求1所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，所述插值計算方法可以為線性插值法或B樣條插值法或薄板樣條插值法或三次樣條插值法。

6.如權利要求1所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，使用路徑搜索法對所述纏繞相位圖作所述相位解纏。

7.如權利要求1所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，所述Harmonic系數可以通過以下公式獲取：

式中：為磁場的不均勻性，為所述相位圖中的像素點的相位差，r為旋磁比，ΔTE為兩個回波的時間差，為極坐標形式的空間點坐標，R₀為勻場相對半徑,是連帶勒讓德函數,A_nm和B_nm為Harmonic系數。如權利要求1所述的磁共振成像勻場方法，其特征在于，所述將以解纏種子點為參考點的Harmonic系數轉化為以磁體中心為參考點的Harmonic系數的可以通過以下公式獲取：

A10=A′10-2zsA′20-152xsA′21-152ysB′21]]>

A11=A′11+A′20xs-5zsA′21-5xsA′22-5ysB′22]]>

B11=B′11+A′20ys-5zsB′21-5ysA′22-5xsB′22]]>

A₂₀=A′₂₀

A₂₁=A′₂₁

A₂₂=A′₂₂

B₂₁=B′₂₁

B₂₂=B′₂₂

式中：x_s，y_s,，z_s)為所述解纏種子點，以解纏種子點為參考點的Harmonic系數為A'₁₀、A'₁₁、B'₁₁、A'₂₀、A'₂₁、A'₂₂、B'₂₁、B'₂₂；以磁場中心為參考點的Harmonic系數為

A₁₀、A₁₁、B₁₁、A₂₀、A₂₁、A₂₂、B₂₁、B₂₂；

此計算公式適用于解纏繞種子點與磁體中心不存在旋轉的情況，如果解纏繞種子點與磁體中心存在旋轉,則所述Harmonic系數的轉換公式需要修正。