[發(fā)明專利]熔絲讀出裝置、方法和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210583912.7
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103187096A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: T·戴格爾
• 申請（專利權(quán)）人: 快捷半導(dǎo)體（蘇州）有限公司;快捷半導(dǎo)體公司
• 主分類號: G11C17/16
• 分類號: G11C17/16;G11C17/18
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11270
• 代理人: 武晨燕;徐川

技術(shù)領(lǐng)域

概括地說，本發(fā)明涉及存儲器元件，并且特別涉及一種一次性可編程(OTP)熔絲(fuse)讀出。

背景技術(shù)

數(shù)字存儲設(shè)備可以包括具有一次性可編程(OTP)存儲器元件的存儲設(shè)備。一種示例性的OTP存儲器元件可以包括熔絲，熔絲可以是非易失性存儲器元件，非易失性存儲器元件可以通過使電流流過熔絲而被編程或者熔斷。通常，熔絲單元兩端的電壓可以被讀出，以便確定熔絲是否已經(jīng)被編程。熔絲單元可以通過將熔絲單元電壓與參考電壓進行比較而讀出。

對于具有多個OTP存儲器元件的存儲器設(shè)備，每個熔絲可以通過將每個熔絲兩端的電壓與參考電壓進行比較而讀出。但是，通常而言，必須使用電路來針對待測量的每個熔絲產(chǎn)生參考電壓。因此，每個熔絲需要指定的電路來產(chǎn)生參考電壓，這可以占據(jù)板上的大量空間。

此外，可以使用比較器和/或鎖存器來讀取OTP存儲器元件，以確定每個OTP存儲器元件的狀態(tài)(例如，已編程的或未編程)。然而，與鎖存器和熔絲單獨的工作電壓相比而言，比較器、鎖存器和熔絲的組合通常在比較低的電壓下工作。

發(fā)明內(nèi)容

除了其他方面以外，本發(fā)明還討論了連接到多個熔絲讀出電路的參考電壓發(fā)生器電路。該參考電壓發(fā)生器電路可以被配置為對參考電流進行鏡像，以產(chǎn)生參考電壓和柵極偏置電壓。多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路可以連接到參考電壓發(fā)生器電路上，并且還可以連接到多個熔絲中的一個熔絲上。多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路可以被配置為使用柵極偏置電壓來對參考電流進行鏡像，以產(chǎn)生在連接到多個熔絲讀出電路上的每個熔絲兩端的熔絲讀出電壓。多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路可以將每個熔絲的熔絲讀出電壓和參考電壓進行比較，并且可以使用比較結(jié)果來指示連接到每個熔絲讀出電路上的每個熔絲的狀態(tài)。

本發(fā)明提供了一種熔絲讀出裝置，包括：參考電壓發(fā)生器電路，其被配置為對參考電流進行鏡像，以產(chǎn)生參考電壓和柵極偏置電壓；以及多個熔絲讀出電路，每個熔絲讀出電路連接到所述參考電壓發(fā)生器電路上，并且每個熔絲讀出電路還連接到多個熔絲中的一個熔絲上，其中，所述多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路被配置為使用所述柵極偏置電壓來對所述參考電流進行鏡像，以產(chǎn)生連接到所述多個熔絲讀出電路上的每個熔絲兩端的熔絲讀出電壓，其中，所述多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路被配置為對每個熔絲的所述熔絲讀出電壓和所述參考電壓進行比較，并且使用比較結(jié)果來指示連接到每個熔絲讀出電路上的每個熔絲的狀態(tài)。

本發(fā)明還提供了一種熔絲讀出方法，包括：對參考電流進行鏡像，以使用參考電壓發(fā)生器電路來產(chǎn)生參考電壓和柵極偏置電壓；使用連接到所述參考電壓發(fā)生器電路上并且還連接到第一熔絲上的熔絲讀出電路，使用所述柵極偏置電壓來對所述參考電流進行鏡像，以產(chǎn)生所述第一熔絲兩端的熔絲讀出電壓，所述熔絲讀出電路是多個熔絲讀出電路中的一個熔絲讀出電路，每個熔絲讀出電路連接到多個熔絲中的一個熔絲上；將所述熔絲讀出電壓和所述參考電壓進行比較；以及使用比較結(jié)果來指示所述第一熔絲的狀態(tài)。

本發(fā)明進一步提供了一種熔絲讀出系統(tǒng)，包括：處理器；以及參考電壓發(fā)生器電路，其連接到所述處理器上，并且被配置為對參考電流進行鏡像以產(chǎn)生參考電壓和柵極偏置電壓；以及多個熔絲讀出電路，其連接到所述處理器上，所述多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路連接到所述參考電壓發(fā)生器電路上，并且每個熔絲讀出電路還連接到多個熔絲中的一個熔絲上，其中，所述多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路被配置為使用所述柵極偏置電壓來對所述參考電流進行鏡像，以產(chǎn)生連接到所述多個熔絲讀出電路上的每個熔絲兩端的熔絲讀出電壓，其中，所述多個熔絲讀出電路中的每個熔絲讀出電路被配置為對每個熔絲的所述熔絲讀出電壓和所述參考電壓進行比較，并且使用比較結(jié)果來指示連接到每個熔絲讀出電路上的每個熔絲的狀態(tài)。

這部分旨在提供對本專利申請的主題的概述。這部分并非旨在提供本發(fā)明的排他性的或詳盡的說明。本文包括了詳細(xì)的描述，以提供關(guān)于本專利申請的進一步信息。

附圖說明

在附圖中(這些附圖不一定是按照比例繪制的)，相同的數(shù)字能夠描述不同視圖中的類似部件。具有不同字母后綴的相同數(shù)字能夠表示類似部件的不同示例。附圖通過示例而非限制的方式概括地示例了本申請中討論的各個實施例。

圖1概括地示出了包括參考電壓發(fā)生器電路和多個熔絲讀出電路的系統(tǒng)的示例；

圖2概括地示出了包括參考電壓發(fā)生器電路和熔絲的熔絲讀出電路的系統(tǒng)的示例；