[發明專利]表面貼裝微波器件自動測試系統

無效

• 申請號: 201210583577.0
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103063957A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 黃存根;吳永清;徐仁遠
• 申請（專利權）人: 成都泰格微電子研究所有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 成都金英專利代理事務所(普通合伙) 51218
• 代理人: 袁英

1.表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：它包括用于控制單端-差分信號轉換電路中多個通道通斷的微控制器MCU，用于將來自微控制器MCU的多個通道的單端TTL電壓信號轉換為互補的差分電壓信號的單端-差分信號轉換電路，和用于測量待測表面貼裝微波器件各項技術參數的矢量網絡分析儀；

微控制器MCU的單端TTL電壓信號輸出端與單端-差分信號轉換電路的輸入端連接，單端-差分信號轉換電路的差分電壓信號輸出端與被測表面貼裝微波器件的控制信號輸入端連接，被測表面貼裝微波器件的射頻輸入端與射頻輸出端分別與矢量網絡分析儀相連。

2.根據權利要求1所述的表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：它還包括用于向微控制器MCU下發測試指令的上位機，上位機與微控制器MCU連接。

3.根據權利要求1所述的表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：它還包括用于為微控制器MCU和單端-差分信號轉換電路提供供電的直流穩壓電源，直流穩壓電源分別與微控制器MCU和單端-差分信號轉換電路的電源端相連。

4.根據權利要求1所述的表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：所述的單端-差分信號轉換電路包括第一晶體管101、第二晶體管102、第三晶體管103、電壓源104和電流源105，第一晶體管101的柵極和漏極分別與電流輸入Iin連接，電流輸入Iin還與第二晶體管102的柵極相連，第一晶體管101、第二晶體管102和第三晶體管103共用一個公共源極，第二晶體管102的源極與第三晶體管103的源極之間并聯有相互串聯的電流源105和電壓源104，電流源105通過電壓源104與第三晶體管103的柵極相連，第二晶體管102的漏極為電流Iout?N輸出，第三晶體管103的漏極為電流Iout?P輸出。

5.根據權利要求4所述的表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：所述的第一晶體管、第二晶體管和第三晶體管均采用NMOS晶體管。

6.根據權利要求4所述的表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：所述的第二晶體管102與第三晶體管103為差分晶體管對。

7.根據權利要求4所述的表面貼裝微波器件自動測試系統，其特征在于：所述的電壓源104與電流源105之間接地。