[發(fā)明專利]一種非晶帶材厚度的測(cè)量方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210583310.1
• 申請(qǐng)日: 2012-12-28
• 公開（公告）號(hào): CN103075956A
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李曉雨;王玲;姜寧;李晨;王安慶
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 青島云路新能源科技有限公司
• 主分類號(hào): G01B7/06
• 分類號(hào): G01B7/06
• 代理公司: 北京億騰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 11309
• 代理人: 陳霽

1.一種非晶帶材厚度的測(cè)量方法，所述方法：采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產(chǎn)的分卷環(huán)節(jié)，在接近導(dǎo)輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測(cè)傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化，根據(jù)檢測(cè)得到的傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化確定非晶帶材厚度。?

2.一種非晶帶材厚度的測(cè)量裝置，其特征在于，所述裝置包括：帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器，?

所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動(dòng)卷取后的帶材進(jìn)行分卷；?

所述電磁式微位移傳感器用于測(cè)量非晶帶材厚度的變化；?

所述PLC控制器從測(cè)量得到的非晶帶材厚度的變化中計(jì)算得到非晶帶材厚度。?

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非晶帶材厚度的測(cè)量裝置，其特征在于，包括上位機(jī)，所述上位機(jī)接收來自PLC控制器的結(jié)果，直觀的顯示帶材的厚度結(jié)果及變化曲線。?

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非晶帶材厚度的測(cè)量裝置，其特征在于，所述帶材分卷裝置包括放卷機(jī)、收卷機(jī)及過渡輥系，其中過渡輥系又包括三個(gè)導(dǎo)輥，主要作用是將自動(dòng)卷取后的帶材進(jìn)行分卷。?

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非晶帶材厚度的測(cè)量裝置，其特征在于，所述電磁式微位移傳感器安裝在帶材分卷裝置過渡輥系中第二個(gè)導(dǎo)輥的正上方，精準(zhǔn)捕捉物體的微小位移變化。?

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的上位機(jī)，其特征在于，所述上位機(jī)還具有存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、自動(dòng)生成厚度檢測(cè)報(bào)告的功能。?