[發(fā)明專利]一種鋁柵CMP協(xié)同計算模型的仿真及優(yōu)化方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210581845.5 | 申請日: | 2012-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN103020383A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發(fā)明(設計)人: | 徐勤志;陳嵐;方晶晶 | 申請(專利權)人: | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 cmp 協(xié)同 計算 模型 仿真 優(yōu)化 方法 | ||
1.一種鋁柵CMP協(xié)同計算模型的仿真方法,其特征在于,包括步驟:
獲取鋁柵初始表面高度;
依據(jù)所述鋁柵初始表面高度,采用鋁柵CMP壓力分布精確計算模型獲取研磨墊和鋁柵間的壓力分布p(x,y,t);
向鋁柵CMP協(xié)同計算模型中輸入模型參數(shù),其中,所述鋁柵CMP協(xié)同計算模型由所述鋁柵CMP壓力分布精確計算模型和鋁柵CMP化學反應動力學模型確定;所述模型參數(shù)至少包括研磨墊材料屬性參數(shù)、CMP工藝參數(shù)以及化學動力學參數(shù),所述CMP工藝參數(shù)至少包括所述外部壓力p0;
采用所述鋁柵CMP協(xié)同計算模型并依據(jù)所述模型參數(shù)進行預定時間段的仿真,預測所述鋁柵研磨后的表面高度;
其中,所述鋁柵CMP協(xié)同計算模型為:
所述鋁柵CMP壓力分布精確計算模型為:
g(x,y,t)=h(x,y,t)+w(x,y,t)-c≥0,(x,y,t)∈IC
g(x,y,t)=0,p(x,y,t)>0,(x,y,t)∈IC
g(x,y,t)>0,p(x,y,t)=0,
F0(t)=∫Ip(x,y,t)dxdy;
所述鋁柵CMP化學反應動力學模型為:
其中,MRR(x,y,t)為鋁柵研磨去除率,M為鋁的原子質(zhì)量,ρ0為鋁的密度,[Oxi](x,y,t)為研磨液中氧化劑的濃度,[In](x,y,t)為研磨液中抑制劑的濃度,[CA](x,y,t)為研磨液中螯合劑的濃度,ki(i=1,…,6)為化學反應速率常數(shù),k50為研磨粒子去除氧化膜、螯合物等的反應速率常數(shù),k60為研磨粒子去除鋁單質(zhì)的反應速率常數(shù),p0為外部壓力,x為選定坐標系沿x軸方向的坐標值,y為選定坐標系沿y軸方向的坐標值,t為鋁柵CMP的仿真時間,w(x,y,t)是研磨墊的表面形變,υ是研磨墊的泊松比,E是研磨墊的彈性模量,g(x,y,t)是形變后研磨墊和鋁柵表面之間的間隔,h(x,y,t)是研磨墊和鋁柵表面之間的初始間隔,c是研磨墊沿外加載荷方向的整體位移,IC是研磨墊和鋁柵表面的接觸表面積,F(xiàn)0(t)是t時刻的外加載荷,I是整個鋁柵表面積,ξ、η均為積分變量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院微電子研究所,未經(jīng)中國科學院微電子研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210581845.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 移動通信終端的協(xié)同方法及其界面系統(tǒng)
- 業(yè)務協(xié)同流程配置、業(yè)務協(xié)同方法及裝置
- 一種基于健康檔案共享平臺的跨醫(yī)院協(xié)同檢查信息系統(tǒng)
- 一種協(xié)同控制方法、協(xié)同控制系統(tǒng)及變頻器
- 基于協(xié)同網(wǎng)關的跨域協(xié)同交互方法
- 一種生產(chǎn)協(xié)同管理方法及系統(tǒng)
- 云邊協(xié)同方法、裝置、系統(tǒng)、設備和介質(zhì)
- 一種智能辦公協(xié)同操作方法及系統(tǒng)
- 一種用于無人裝備的時間協(xié)同航跡規(guī)劃方法
- 基于大數(shù)據(jù)的智慧辦公協(xié)同方法及系統(tǒng)





