[發明專利]一種絕緣子表面污穢鹽密測量方法及其裝置有效
| 申請號: | 201210579261.4 | 申請日: | 2012-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN103056121A | 公開(公告)日: | 2013-04-24 |
| 發明(設計)人: | 劉琴;徐濤;萬小東;許佐明;南敬 | 申請(專利權)人: | 中國電力科學研究院;國家電網公司 |
| 主分類號: | B08B3/02 | 分類號: | B08B3/02;G01N27/04 |
| 代理公司: | 北京安博達知識產權代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國文 |
| 地址: | 100192 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 絕緣子 表面 污穢 測量方法 及其 裝置 | ||
1.一種用于清洗絕緣子表面的噴水裝置,其特征在于,所述噴水裝置包括儲水盒、噴頭和用于檢測儲水盒中水量的傳感器;所述儲水盒通過導管與所述噴頭連接,用于將儲水盒中的去離子水噴到絕緣子表面。
2.如權利要求1所述的噴水裝置,其特征在于,所述噴水裝置設有用于給所述儲水盒加壓的泵。
3.如權利要求1所述的噴水裝置,其特征在于,所述噴頭包括固定件、套設在固定件外與固定件相對轉動的旋轉件以及限制旋轉件軸向移動的定位機構,所述固定件內部設有腔體,所述固定件上設有噴孔,所述腔體將噴孔與導管連通,所述旋轉件上設有至少五個噴孔,旋轉件在繞固定件的軸線轉動時,旋轉件上的噴孔與固定件上的噴孔至少部分重合。
所述固定件上和所述旋轉件上的噴孔的直徑為0.5~2mm。
4.如權利要求3所述的噴水裝置,其特征在于,所述旋轉件上的至少五個噴孔沿旋轉件的周向間隔均勻設置。
5.如權利要求3所述的噴水裝置,其特征在于,所述定位機構包括定位卡階和定位件;
所述固定件上套設旋轉件的部位,其外徑小于固定件處其余部位的外徑,形成定位卡階,將旋轉件一端定位,旋轉件另一端通過與固定件連接的定位件定位。
6.一種用于絕緣子表面污穢鹽密測量的檢測裝置,其特征在于,所述檢測裝置包括連接的檢測筆和檢測裝置本體;
所述檢測筆的探頭將在污水中檢測到的電導率傳給所述檢測裝置本體,進行鹽密值的計算。
7.如權利要求6所述的檢測裝置,其特征在于,所述檢測筆為含有電導率及溫度電極的檢測筆。
8.如權利要求7所述的檢測裝置,其特征在于,所述檢測筆長度為5-10cm;電導率及溫度電極露出長度為5-10mm作為探頭,其余膠鑄在檢測筆內,所述電導率及溫度電極為圓柱形,其半徑為1-2mm。
9.一種絕緣子表面污穢鹽密測量方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
1)潤濕污穢絕緣子表面;
2)檢測裝置檢測步驟1)中污水的電導率;
3)進行電導率到鹽密值的換算。
10.如權利要求9所述的方法,其特征在于,按下述表達式進行步驟3)的所述電導率換算:
按公式1進行電導率的校正:
σ20=σθ[1-b(θ-20)]??????????(1)
式中,θ為溶液溫度,單位為℃;σθ為在溫度θ℃下的體積電導率,單位為S/m;σ20為在溫度20℃下的體積電導率,單位為S/m;b為因數;
絕緣子表面等值鹽密按公式2和公式3計算:
sa=(5.7σ20)1.03??????????(2)
ESDD=Sa·V/A??????????(3)
式中,σ20為在溫度20℃下的體積電導率,單位為S/m;ESDD為等值鹽密,單位為mg/cm2;V為噴頭噴出的去離子水的體積,單位為cm3;A為噴頭表面面積,單位為cm2。
11.如權利要求10所述的方法,其特征在于,所述b為取決于溫度θ的因數,其表達式如下:
b=-3.2×10-8θ3+1.032×10-5θ2-8.272×10-4θ+3.544×10-2?????(4)。
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