[發明專利]試樣分析裝置

無效

• 申請號: 201210579250.6
• 申請日: 2012-12-27
• 公開（公告）號: CN103185691A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 金弘根;金東映;金忠雄
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G01N21/15
• 分類號: G01N21/15;G01N21/59
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 韓明星;王秀君

1.一種試樣分析裝置，包括：

盤，構造成繞旋轉軸旋轉，并具有至少一個檢測區域；

光學傳感裝置，構造成檢測于所述至少一個檢測區域上顯示的反應結果；

至少一個位置確定突起，形成在所述盤的外表面上；

滑動器，設置成在徑向上相對于所述盤可移動；以及

止動器，安裝到所述滑動器，并構造成通過阻擋所述至少一個位置確定突起的旋轉路徑使所述盤的旋轉停止。

2.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述止動器構造成于所述光學傳感裝置能檢測所述至少一個檢測區域的位置使所述盤的旋轉停止。

3.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述盤包括位于在徑向上距所述旋轉軸第一距離處的第一位置確定突起以及位于在徑向上距所述旋轉軸第二距離處的第二位置確定突起。

4.根據權利要求3所述的試樣分析裝置，其中，所述盤包括第一檢測區域和第二檢測區域。

5.根據權利要求4所述的試樣分析裝置，其中，在所述止動器通過阻擋所述第一位置確定突起的旋轉路徑使所述盤的旋轉停止時，所述第一檢測區域停止于所述光學傳感裝置能檢測所述第一檢測區域的位置。

6.根據權利要求4所述的試樣分析裝置，其中，在所述止動器通過阻擋所述第二位置確定突起的旋轉路徑使所述盤的旋轉停止時，所述第二檢測區域停止于所述光學傳感裝置能檢測所述第二檢測區域的位置。

7.根據權利要求3所述的試樣分析裝置，其中，所述滑動器構造成在所述旋轉軸和所述盤的外圍之間移動。

8.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述止動器包括容納部分，所述容納部分構造成定位所述至少一個位置確定突起。

9.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述止動器包括襯墊構件，所述襯墊構件設置在所述止動器的接觸所述位置確定突起的表面上。

10.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述止動器包括夾持單元，所述夾持單元構造成通過從相反的方向擠壓所述位置確定突起而使所述位置確定突起停止。

11.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述滑動器包括停止檢測單元，所述停止檢測單元構造成檢測所述位置確定突起是否被所述止動器停止。

12.根據權利要求11所述的試樣分析裝置，其中，所述停止檢測單元包括鉸接止動器，并且所述停止檢測單元被構造成通過檢測所述鉸接止動器的運動來確定所述位置確定突起是否停止。

13.根據權利要求11所述的試樣分析裝置，其中，所述停止檢測單元包括開關。

14.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述滑動器包括位置檢測單元，所述位置檢測單元構造成檢測所述止動器是否移動至能夠使所述位置確定突起停止的位置，

其中，所述位置檢測單元包括發光部分和光接收部分，所述發光部分和所述光部分彼此相對，以使所述位置檢測突起將經過所述發光部分和所述光接收部分之間。

15.根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其中，所述光學傳感裝置安裝到所述滑動器。