[發明專利]磁盤塊檢查方法及裝置

有效

• 申請號: 201210578405.4
• 申請日: 2012-12-27
• 公開（公告）號: CN103117075A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 張森;黃巖
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 北京億騰知識產權代理事務所 11309
• 代理人: 李楠

1.一種磁盤塊檢查方法，其特征在于，所述方法包括：

利用哈希Hash函數將第一磁盤塊集合的第一子磁盤塊集合的每個塊號映射到布隆濾波器Bloom?Filter數組中，將所述每個塊號映射到的位置的值由初始值置為第一特征值，所述Bloom?Filter數組中所有位置的初始值為第二特征值，所述第一磁盤塊集合包括兩個子磁盤塊集合，所述兩個子磁盤塊集合為空閑磁盤塊集合和非空閑磁盤塊集合；

利用所述Hash函數將被檢查磁盤塊的塊號映射到所述Bloom?Filter數組中；

根據所述被檢查磁盤塊的塊號映射到的位置的值，判斷所述被檢查磁盤塊是否屬于所述Bloom?Filter數組；

根據所述被檢查磁盤塊是否屬于所述Bloom?Filter數組，確定所述被檢查磁盤塊是空閑磁盤塊還是非空閑磁盤塊。

2.根據權利要求1所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，所述Hash函數個數為一個以上，并且各個Hash函數之間沒有相關性。

3.根據權利要求1所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，

當所述第一磁盤塊集合中的空閑的磁盤塊數量大于非空閑的磁盤塊數量且兩者之差大于第一數量閾值時，則所述第一子磁盤塊集合為非空閑磁盤塊集合，相應地，所述Bloom?Filter數組為非空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組；

當所述第一磁盤塊集合中的非空閑的磁盤塊數量大于空閑的磁盤塊數量且兩者之差大于第一數量閾值時，則所述第一子磁盤塊集合為非空閑磁盤塊集合，相應地，所述Bloom?Filter數組為空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組。

4.根據權利要求1所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，當非空閑的磁盤塊數量與空閑的磁盤塊數量之差小于第一數量閾值時，所述方法還包括：

利用哈希Hash函數將第一磁盤塊集合的第二子磁盤塊集合的每個塊號映射到布隆濾波器Bloom?Filter數組中，將所述每個塊號映射到的位置的值由初始值置為第一特征值；

相應地，所述Bloom?Filter數組為非空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組和空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組。

5.根據權利要求1或3所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，當所述BloomFilter數組為非空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組時，所述根據所述被檢查磁盤塊的塊號映射到的位置的值，判斷所述被檢查磁盤塊是否屬于所述BloomFilter數組，根據所述被檢查磁盤塊是否屬于所述至少一個Bloom?Filter數組，確定所述被檢查磁盤塊是空閑磁盤塊還是非空閑磁盤塊，包括：

判斷所述被檢查磁盤塊的塊號映射到所述非空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組的位置的值，如果所述映射到的位置的值至少有一個不是所述第一特征值，判斷所述被檢查磁盤塊不屬于所述非空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組；

確定所述被檢查磁盤塊是空閑磁盤塊。

6.根據權利要求5所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，所述方法還包括：

如果所述映射到的位置的值都是所述第一特征值，則到空間管理模塊去查詢所述被檢查磁盤塊是空閑磁盤塊還是非空閑磁盤塊。

7.根據權利要求1或3所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，當所述BloomFilter數組為非空閑磁盤塊的Bl?oom?Filter數組時，所述根據所述被檢查磁盤塊的塊號映射到的位置的值，判斷所述被檢查磁盤塊是否屬于所述BloomFilter數組，根據所述被檢查磁盤塊是否屬于所述至少一個Bloom?Filter數組，確定所述被檢查磁盤塊是空閑磁盤塊還是非空閑磁盤塊，包括：

判斷所述被檢查磁盤塊的塊號映射到所述空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組的位置的值，如果所述映射到的位置的值的至少有一個不是所述第一特征值，判斷所述被檢查磁盤塊不屬于所述空閑磁盤塊的Bloom?Filter數組；

確定所述被檢查磁盤塊是非空閑磁盤塊。

8.根據權利要求7所述的磁盤塊檢查方法，其特征在于，所述方法還包括：

如果所述映射到的位置的值都是所述第一特征值，則到空間管理模塊去查詢所述被檢查磁盤塊是空閑磁盤塊還是非空閑磁盤塊。