[發明專利]一種開/短路測試系統及方法

無效

• 申請號: 201210578382.7
• 申請日: 2012-12-26
• 公開（公告）號: CN103063975A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 徐正元
• 申請（專利權）人: 成都市中州半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/3177
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種開/短路測試系統，包括測試模塊及與所述測試模塊相連的待測集成電路，其特征在于，所述測試模塊包括分別與所述待測集成電路對應待測管腳相連的電壓測量工具陣列、功能測試邏輯模塊陣列、第一供電接口及第二供電接口，所述待測集成電路的每個待測管腳都有一個保護電路，所述保護電路由一個接電源的二極管和一個接地的二極管組成，所述接電源的二極管和所述接地的保護二極管首尾相連，所述待測管腳置于所述接電源的二極管和所述接地的保護二極管之間，所述第一供電接口與所述接電源的二極管的陰極相連，所述第二供電接口與所述接地的二極管的陽極相連。

2.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述電壓測量工具陣列中的電壓測量工具的數量為N個，所述功能測試邏輯模塊陣列中的功能測試邏輯模塊的數量為N個，與所述待測管腳的數量相同，且N≥2。

3.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述功能測試邏輯模塊包括限流電阻及與所述限流電阻相連的功能測試邏輯，所述限流電阻保護所述接電源的二極管的陽極及所述接地的二極管的陰極與功能測試邏輯不短路。

4.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述第一供電接口及所述第二供電接口為選擇開關，當測試所述接電源的二極管時，所述第一供電接口及所述第二供電接口均接地，則當測試時，功能測試邏輯輸出高電平，所述接電源的二極管導通，所述接地的二極管不導通。

5.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述第一供電接口及所述第二供電接口為選擇開關，當測試所述接地的二極管時，所述第一供電接口及所述第二供電接口均接電源，則當測試時，功能測試邏輯輸出低電平，所述接地的二極管導通，所述接電源的二極管不導通。

6.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述第一供電接口的電壓范圍大于與其相連的所述接電源的二極管的壓降范圍，所述第二供?電接口的電壓范圍大于與其相連的所述接地的二極管的壓降范圍，且所述第一供電接口和所述第二供電接口的電源電壓相同。

7.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述第一供電接口和所述第二供電接口的電壓可以根據待測集成電路的設計要求進行調整。

8.根據權利要求1所述的開/短路測試系統，其特征在于：所述接電源的二極管和所述接地的二極管的壓降范圍為0.2V～1.5V。

9.一種開/短路測試方法，具體步驟如下：

將所述第一供電接口和所述第二供電接口同時接地；

所述功能測試邏輯模塊輸出高電壓至所述接電源的二極管的陽極，使得所述接電源的二極管導通；

所述電壓測量工具測量所述待測管腳的電壓值是否和所述接電源的二極管的壓降值相同，是則進入下一步，否則測試不通過；

將所述第一供電接口和所述第二供電接口同時接電源；

所述功能測試邏輯模塊輸出零電壓至所述接地的二極管的陰極，使得所述接地的二極管導通；

所述電壓測量工具測量所述待測管腳的電壓值是否和所述第二供電接口的電源電壓減去所述接地的二極管的壓降值相同，是則測試通過，否則測試不通過。

10.根據權利要求8所述的開/短路測試方法，其具體步驟還可以如下：

將所述第一供電接口和所述第二供電接口同時接電源；

所述功能測試邏輯模塊輸出零電壓至所述接地的二極管的陰極，使得所述接地的二極管導通；

所述電壓測量工具測量所述待測管腳的電壓值是否和所述第二供電接口的電源電壓減去所述接地的二極管的壓降值相同，是則進入下一步，否則測試不通過;

將所述第一供電接口和所述第二供電接口同時接地；

所述功能測試邏輯模塊輸出高電壓至所述接電源的二極管的陽極，使得?所述接電源的二極管導通；

所述電壓測量工具測量所述待測管腳的電壓值是否和所述接電源的二極管的壓降值相同，是則測試通過，否則測試不通過。?