[發明專利]具有凸透鏡結構的像元結構及制造方法有效
| 申請號: | 201210575632.1 | 申請日: | 2012-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN103066090B | 公開(公告)日: | 2017-11-07 |
| 發明(設計)人: | 趙宇航;康曉旭 | 申請(專利權)人: | 上海集成電路研發中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吳世華,林彥之 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 凸透鏡 結構 制造 方法 | ||
1.一種具有凸透鏡結構的像元結構,其特征在于:其包括硅襯底上的光敏元件和用于標準CMOS器件的多層結構,該光敏元件的上方具有向下凸的下凸透鏡和向上凸的上凸透鏡,該上凸透鏡位于下凸透鏡的上方,并與下凸透鏡組成全凸透鏡;其中,所述多層結構包括CMOS工藝器件、接觸孔層、銅互連線層以及PAD鈍化層,所述多層結構的頂面的上設有容納下凸透鏡的容納層,該容納層具有凹槽,該下凸透鏡設于該凹槽內。
2.根據權利要求1所述的具有凸透鏡結構的像元結構,其特征在于:該凹槽底部由透光材料填充,該下凸透鏡設于該透光材料的上方。
3.根據權利要求2所述的具有凸透鏡結構的像元結構,其特征在于:該上凸透鏡位于下凸透鏡的上表面之上,并與下凸透鏡為一體。
4.根據權利要求3所述的具有凸透鏡結構的像元結構,其特征在于:所述多層結構的頂面與容納層的中間還具有一層彩色濾光層。
5.根據權利要求4所述的具有凸透鏡結構的像元結構,其特征在于:該容納層為透光材料,該凹槽面積大于光敏元件區域的面積。
6.根據權利要求1至5任一項所述的具有凸透鏡結構的像元結構,其特征在于:該光敏元件是光敏二極管。
7.一種權利要求1所述具有凸透鏡結構的像元結構的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S301,在硅襯底上排布光敏元件和用于標準CMOS器件的多層結構,在多層結構表面涂覆第一透光材料,刻蝕該第一透光材料以形成凹槽,實現容納層;
步驟S302,該凹槽底部填充第二透光材料,形成具有圓弧形凹形表面的半填充結構,去除凹槽外圍的第二透光材料;
步驟S303,利用第三透光材料對凹形半填充結構進行填充,并涂覆蓋沒容納層,刻蝕去除凹槽區域以外的第三透光材料;
步驟S304,加熱并使第三透光材料熔融,利用其表面張力以形成上凸透鏡,實現全凸透鏡結構。
8.根據權利要求7所述的具有凸透鏡結構的像元結構的制造方法,其特征在于:步驟S303包括利用第三透光材料對凹形半填充結構進行填充,形成下凸透鏡,并實現表面平坦化;在第三透光材料上涂覆第四透光材料,并刻蝕去除下凸透鏡區域以外的第四透光材料;步驟S304為加熱并使第四透光材料熔融,利用其表面張力以形成上凸透鏡,實現全凸透鏡結構,其中,該第三透光材料與第四透光材料是不同材質,且第三透光材料的熔融溫度高于第四透光材料的熔融溫度。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





