[發明專利]物體檢測方法和裝置

在審

• 申請號: 201210574632.X
• 申請日: 2012-12-26
• 公開（公告）號: CN103903246A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 范圣印;王鑫
• 申請（專利權）人: 株式會社理光
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 張麗新

1.一種物體檢測方法，包括：

通過多個立體相機拍攝物體獲得該物體的多個深度圖像；

從每個深度圖像提取前景，每個深度圖像的前景具有各自的圖像坐標系統；

在以x、y、z方向的矩形坐標定義的統一的三維世界坐標系中，融合各個前景，其中物體相當于站立于x、z軸限定的xz平面上；

從所述三維世界坐標系中融合的前景計算得到xz平面上的外觀二維直方圖，該外觀二維直方圖通過如下處理得到：將所述三維世界坐標系中融合的前景分割成沿y方向延伸的豎直體，統計每個豎直體中前景點的個數，從而得到表征各個豎直體內的前景點個數的外觀二維直方圖；

根據該多個立體相機的部署，確定對應的多個深度圖像在xz平面上的交疊區域，并確定交疊次數；

根據某檢測位置是否處于交疊區域以及對應的交疊次數，確定該檢測位置相關聯的檢測參數；以及

基于確定的檢測參數，利用外觀二維直方圖來檢測物體。

2.根據權利要求1的物體檢測方法，其中，在所述確定檢測參數的步驟中確定的檢測參數是閾值和/或物體標準模板，其中通過將被檢測物體和物體標準模板進行匹配、確定匹配程度、比較匹配程度和閾值來檢測物體。

3.根據權利要求1的物體檢測方法，還包括:

從所述三維世界坐標系中融合的前景計算得到xz平面上的高度二維直方圖，其中通過統計每個豎直體內的前景點中高度最大的前景點的高度來得到表征各個豎直體內最高高度的高度二維直方圖；以及

利用高度二維直方圖來跟蹤物體，包括：

從高度二維直方圖提取特征；

判斷物體是否在不同的交疊區域的邊界處，以及

根據判斷結果的不同而采用不同的特征進行跟蹤。

4.根據權利要求3的物體檢測方法，還包括：

定義三種用于跟蹤的特征：第一種特征是與高度二維直方圖對應的高度掩膜，其中，如果高度二維直方圖某點的值大于預定閾值，則該點對應的高度掩膜為第一數值，否則該點對應的高度掩膜為第二數值，其中第一數值大于第二數值；第二種特征是表征候選物體的平均高度值的平均高度；第三種特征是候選物體的位置信息；

其中所述根據判斷結果的不同而采用不同的特征進行跟蹤包括：

如果確定物體在不同的交疊區域的邊界處，則基于上述第二種特征和第三種特征進行物體跟蹤；以及

如果確定物體不在不同的交疊區域的邊界處，則基于上述第一種特征、第二種特征和第三種特征進行物體跟蹤。

5.根據權利要求4的物體檢測方法，還包括：

如果確定物體在不同的交疊區域的邊界處，判定高度掩膜變化趨勢是否符合預期的高度掩膜變化趨勢，以及

如果確定高度掩膜變化趨勢與預期的高度掩膜變化趨勢不符，則確定本次跟蹤失敗。

6.根據權利要求5的物體檢測方法，其中所述預期的高度掩膜變化趨勢為：當物體通過邊界進入高的交疊次數的區域時，其高度掩膜范圍變大，當一個物體通過邊界進入低的交疊次數的區域時，其高度掩膜范圍變小.

7.根據權利要求1的物體檢測方法，其中：

所述檢測位置相關聯的檢測參數是表征標準物體的表面積大小的標準表面積物體標準模板，

其中根據某檢測位置是否處于交疊區域以及交疊次數，確定該檢測位置相關聯的檢測參數包括：根據檢測位置所處區域的交疊次數計算該檢測位置相關聯的標準表面積，使得交疊次數越大，標準表面積越大。

8.根據權利要求1的物體檢測方法，還包括：

從所述三維世界坐標系中融合的前景計算得到xz平面上的高度二維直方圖，其中通過統計每個豎直體內的前景點中高度最大的前景點的高度來得到表征各個豎直體內最高高度的高度二維直方圖；以及

利用高度二維直方圖來檢測物體，其中利用高度二維直方圖來檢測物體期間所使用的與高度二維直方圖相關聯的檢測參數與檢測位置是否處于交疊區域以及交疊次數無關。