[發明專利]基于SRAM的PUF的片上自我注冊系統及其實現方法

有效

• 申請號: 201210572609.7
• 申請日: 2012-12-20
• 公開（公告）號: CN103020552A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 黃宇
• 申請（專利權）人: 天津聯芯科技有限公司
• 主分類號: G06F21/79
• 分類號: G06F21/79
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 王利文

1.一種基于SRAM的PUF的片上自我注冊系統，其特征在于：包括BISE控制器、電壓調節器、溫度調節器、累加器、SRAM1和SRAM2，BISE控制器輸出端連接到電壓調節器和溫度調節器，該電壓調節器和溫度調節器的輸出端連接到SRAM2上，BISE控制器分別與SRAM1、SRAM2和累加器相連接，SRAM1、SRAM2分別與累加器的兩個輸入端相連接，該累加器的輸出端連接到SRAM1上，該SRAM1輸出PUF單元。

2.根據權利要求1所述的基于SRAM的PUF的片上自我注冊系統，其特征在于：所述的SRAM1和SRAM2具有同樣的大小和地址空間。

3.根據權利要求1所述的基于SRAM的PUF的片上自我注冊系統，其特征在于：所述的電壓調節器包括選擇電壓輸出單元和多個分壓電阻，工作電壓VDD通過分壓電阻連接到選擇電壓輸出單元上，該選擇電壓輸出單元在BISE控制器的控制下向SRAM2輸出不同的電壓。

4.根據權利要求1所述的基于SRAM的PUF的片上自我注冊系統，其特征在于：所述的溫度調節器包括計數器，該計數器在BISE控制器的控制下，向SRAM2循環交替寫入“0”和“1”，從而調節SRAM2的溫度。

5.一種如權利要求1至4任一項所述片上自我注冊系統的實現方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1：BISE控制器由初始態自動進入檢測模式0，進行檢測并輸出檢測模式0下的PUF單元。

步驟2：BISE控制器自動進入檢測模式1，進行檢測并輸出檢測模式1下的PUF單元。

6.根據權利要求1所述的基于SRAM的PUF的片上自我注冊方法，其特征在于：所述檢測模式0的檢測過程為：首先，SRAM1所有單元被初始化成“0”；然后，在各種環境參數組合下，SRAM2上電并讀取SRAM2的每個單元的初始邏輯值，將該邏輯值和SRAM1相應單元的邏輯值進行邏輯“或”運算并把結果存入SRAM1相應單元，重復以上操作直到所有環境參數全部遍歷完畢；最后，將穩定可靠的SRAM2“0”的單元地址輸出作為PUF特征地址，“0”作為這些特征地址的特征值。

7.根據權利要求1所述的基于SRAM的PUF的片上自我注冊方法，其特征在于：所述檢測模式1的檢測過程為：首先，SRAM1所有單元被初始化成“1”；然后，在各種環境參數組合下，SRAM2上電并讀取SRAM2的每個單元的初始邏輯值，將該邏輯值和SRAM1相應單元的邏輯值進行邏輯“與”運算并把結果存入SRAM1相應單元，重復以上操作直到所有環境參數全部遍歷完畢；最后，將穩定可靠的SRAM2的“1”的單元地址輸出作為PUF特征地址，“1”作為這些特征地址的特征值。

8.根據權利要求6或7所述的基于SRAM的PUF的片上自我注冊方法，其特征在于：所述的各種環境參數包括電壓調節參數和溫度調節參數。