[發明專利]采用三坐標測量儀拼接測量大口徑非球面面形的方法有效
| 申請號: | 201210570644.5 | 申請日: | 2012-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN102980532A | 公開(公告)日: | 2013-03-20 |
| 發明(設計)人: | 王孝坤 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 采用 坐標 測量儀 拼接 測量 口徑 球面 方法 | ||
1.采用三坐標測量儀拼接測量大口徑非球面面形的方法,其特征是,該方法由以下步驟實現:
步驟一、對被檢測大口徑非球面的尺寸進行劃分,獲得多個子孔徑;所述多個子孔徑在三坐標測量儀的檢測范圍內,相鄰子孔徑有四分之一的區域為重疊區域;?
步驟二、采用三坐標測量儀檢測并采集子孔徑區域的面形數據,并在該子孔徑區域與相鄰的另一個子孔徑區域的重疊區域貼上三個靶標,采用三坐標測量儀測定三個靶標的數據;
步驟三、調整被檢測大口徑非球面的位置,使三坐標測量儀能夠檢測到另一個子孔徑區域的面形數據;采用三坐標測量儀測定三個靶標的數據;移去三個靶標,三坐標測量儀獲得另一個子孔徑區域的面形數據;
步驟四、判斷是否是最后一個子孔徑,如果是,則執行步驟五;如果否,返回執行步驟二;
步驟五、采用迭代算法將步驟二和步驟三獲得的子孔徑區域的面形數據進行坐標變換,獲得在相同基準面上的兩個子孔徑數據;
步驟六、判斷步驟五獲得的兩個子孔徑的重疊區域是否大于四分之一,如果否,則返回執行步驟三;如果是,則采用最小二乘法獲得兩個子孔徑的拼接系數,最終實現對大口徑非球面面形的檢測。
2.根據權利要求1所述的采用三坐標測量儀拼接測量大口徑非球面面形的方法,其特征在于,所述三個靶標為中心帶十字線的圓形粘貼。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所,未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210570644.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





