[發(fā)明專利]光模塊測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210569911.7
• 申請日: 2012-12-25
• 公開（公告）號(hào): CN103001693A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 古穎泉;陳曉鵬;胡云;克瑞斯·勞鮑特
• 申請（專利權(quán)）人: 索爾思光電（成都）有限公司
• 主分類號(hào): H04B10/07
• 分類號(hào): H04B10/07
• 代理公司: 四川力久律師事務(wù)所 51221
• 代理人: 林輝輪;王蕓

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種光模塊測試方法。

背景技術(shù)

在生產(chǎn)通信光模塊的過程中，需要對光模塊進(jìn)行各種性能參數(shù)測試，例如對光模塊發(fā)射光功率、接收光功率、光眼圖等的測試。測試前將多個(gè)待測光模塊安裝在測試板上，位于測試板上的光模塊通過多路光開關(guān)與各種光路測試儀器連接，測試主機(jī)與連接測試板，控制測試板對多個(gè)光模塊進(jìn)行測試。目前在測試過程中，如果遇到停電等故障，工人需要對所有光模塊重新進(jìn)行測試，浪費(fèi)人力物力，生產(chǎn)成本增加，光模塊測試效率大大降低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述不足，提供一種提高測試效率、節(jié)省人力物力財(cái)力的光模塊測試方法。

為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案：

一種光模塊測試方法，該方法包括如下步驟：

a）在多個(gè)不同環(huán)境溫度下對至少一個(gè)具有唯一序列號(hào)的待測光模塊進(jìn)行至少一個(gè)測試項(xiàng)的測試；?

b）將當(dāng)前測試時(shí)的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號(hào)和每個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲(chǔ)在本地?cái)?shù)據(jù)庫中，所述每個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)以待測光模塊序列號(hào)為索引，所述待測光模塊序列號(hào)以環(huán)境溫度為索引；其中，每個(gè)環(huán)境溫度對應(yīng)至少一個(gè)待測光模塊序列號(hào)，每個(gè)待測光模塊序列號(hào)再對應(yīng)至少一個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)；

c）當(dāng)測試中斷重新測試時(shí)，將本地?cái)?shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)的索引表查找判斷每個(gè)環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項(xiàng)，對未完成所有測試項(xiàng)的待測光模塊繼續(xù)進(jìn)行測試。

其中，所述步驟a）和步驟c)中，當(dāng)一個(gè)環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試項(xiàng)都測試完后，再進(jìn)行下一環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試。

進(jìn)一步的，當(dāng)一個(gè)待測光模塊的所有測試項(xiàng)都完成后，再測試下一個(gè)待測光模塊；若一個(gè)待測光模塊的所有測試項(xiàng)未完成，則下次重新測試該待測光模塊。

所述測試項(xiàng)為光功率測試、光眼圖測試，消光比測試、靈敏度測試中的至少一個(gè)。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，當(dāng)完成一輪測試后將本地?cái)?shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)的測試數(shù)據(jù)上傳到服務(wù)器存儲(chǔ)。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，當(dāng)將本地?cái)?shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)的測試數(shù)據(jù)上傳至服務(wù)器失敗后，由人工手動(dòng)將本地?cái)?shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)的測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入服務(wù)器。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果：??

本發(fā)明的光模塊測試方法在多個(gè)不同環(huán)境溫度下對至少一個(gè)具有唯一序列號(hào)的待測光模塊進(jìn)行至少一個(gè)測試項(xiàng)的測試；將當(dāng)前測試時(shí)的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號(hào)和每個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲(chǔ)在本地?cái)?shù)據(jù)庫中，當(dāng)測試中斷重新測試時(shí)，可以根據(jù)本地?cái)?shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)的索引表查找判斷每個(gè)環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項(xiàng)，對未完成所有測試項(xiàng)的待測光模塊繼續(xù)進(jìn)行測試，不需要對已經(jīng)完成所有測試的光模塊重新進(jìn)行測試，避免了重復(fù)測試，測試效率提高，節(jié)省人力物力財(cái)力，降低生產(chǎn)成本。

附圖說明：

圖1為本發(fā)明測試方法流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合試驗(yàn)例及具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)施例，凡基于本發(fā)明內(nèi)容所實(shí)現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。

本發(fā)明測試前將多個(gè)待測光模塊安裝在測試板上，多個(gè)待測光模塊通過測試板與各種測試儀器連接，例如光功率計(jì)（測試光功率）、示波器（測試光眼圖），衰減器（測試靈敏度，過載，光功率差損等）等。測試主機(jī)與測試板總線連接，將安裝有多個(gè)待測光模塊的測試板放置在溫箱中，測試主機(jī)控制溫箱溫度，同時(shí)控制測試板對多個(gè)待測光模塊進(jìn)行測試。以上這些都是現(xiàn)有成熟技術(shù)，不再詳述。

參考圖1，本發(fā)明的光模塊測試方法包括如下步驟：

a）在多個(gè)不同環(huán)境溫度下對至少一個(gè)具有唯一序列號(hào)的待測光模塊進(jìn)行至少一個(gè)測試項(xiàng)的測試。測試主機(jī)控制調(diào)節(jié)溫箱溫度，在每一個(gè)測試環(huán)境溫度下，對光模塊進(jìn)行至少一個(gè)測試項(xiàng)的測試。測試主機(jī)通過下發(fā)指令到測試板掃描讀取光模塊序列號(hào)并保存在測試主機(jī)內(nèi)備用。測試數(shù)據(jù)以環(huán)境溫度、光模塊序列號(hào)為索引保存，一一對應(yīng)。

b）測試主機(jī)將當(dāng)前測試時(shí)的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號(hào)和每個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲(chǔ)在本地?cái)?shù)據(jù)庫中，所述每個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)以待測光模塊序列號(hào)為索引，所述待測光模塊序列號(hào)以環(huán)境溫度為索引；其中，每個(gè)環(huán)境溫度對應(yīng)至少一個(gè)待測光模塊序列號(hào)，每個(gè)待測光模塊序列號(hào)再對應(yīng)至少一個(gè)測試項(xiàng)的測試數(shù)據(jù)。其中所述本地?cái)?shù)據(jù)庫可以位于測試主機(jī)內(nèi)，也可以是單獨(dú)的與測試主機(jī)連接的本地?cái)?shù)據(jù)庫。