[發明專利]應用于發光二極管與透鏡的對位模組及其對位方法

無效

• 申請號: 201210565007.9
• 申請日: 2012-12-24
• 公開（公告）號: CN103883988A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 賴志成
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: F21V17/00
• 分類號: F21V17/00;F21Y101/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于發光二極管的對位模組，其用以將發光二極管與光學透鏡進行對位，其特征在于：包括一主控模組、受控于主控模組的第一影像感測模組及第二影像感測模組，所述主控模組控制所述第一影像感測模組及第二影像感測模組分別對所述發光二極管的光強中心及光學透鏡的外部輪廓幾何中心進行感測，所述主控模組依據發光二極管光強中心及光學透鏡的外部輪廓的幾何中心的坐標使二者實現精確對位。

2.如權利要求1所述的對位模組，其特征在于：所述第一影像感測模組及第二影像感測模組分別將感測到的信息反饋至所述主控模組，并經由所述主控模組進行處理。

3.如權利要求2所述的對位模組，其特征在于：所述主控模組依據所述第一影像感測模組及第二影像感測模組反饋的信息，計算出所述發光二極管發光強度最大的位置處的坐標值及所述光學透鏡的幾何中心的坐標值，然后將二坐標值換算至同一坐標系中，得到同一坐標系中的發光二極管發光強度最大的位置處的坐標值以及光學透鏡的幾何中心的坐標值。

4.如權利要求3所述的對位模組，其特征在于：還包括一取件模組，所述取件模組用以抓取光學透鏡，并根據所述主控模組換算后的坐標值，將所述光學模組精確對位至所述發光二極管。

5.如權利要求2所述的對位模組，其特征在于：所述第一影像感測模組及第二影像感測模組分別具有一攝像頭，且所述攝像頭均為CCD攝像頭。

6.一種對位方法，用以將發光二極管及光學透鏡進行對位，其包括以下步驟：

將發光二極管通電使其發出一定強度的光；

提供一對位模組，并利用對位模組對發光二極管及光學透鏡進行感測，以獲得同一坐標系中的發光二極管發光強度最大的位置處的坐標以及光學透鏡幾何中心處的坐標；

所述對位模組依據所述坐標信息，將所述光學透鏡與所述發光二極管進行精確對位。

7.如權利要求6所述的對位方法，其特征在于：所述對位模組包括一感測發光二極管的第一影像感測模組、一感測光學透鏡的第二影像感測模組以及用以控制所述第一影像感測模組及第二影像感測模組的主控模組，所述主控模組控制所述第一影像感測模組將感測的發光二極管的發光強度及位置信息反饋至所述主控模組，所述主控模組控制所述第二影像感測模組將感測的光學透鏡的信息反饋至所述主控模組，然后經由所述主控模組計算得到所述發光二極管發光強度最大的位置處的坐標值及所述光學透鏡的幾何中心的坐標值，再經由所述主控模組的轉換，將二坐標值換算為同一坐標系中。

8.如權利要求7所述的對位方法，其特征在于：所述對位模組還包括取件模組，通過所述對位模組的取件模組，并依據所述換算后的坐標值，將所述光學透鏡與所述發光二極管進行精確對位。