[發(fā)明專利]測(cè)試座

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210563771.2
• 申請(qǐng)日: 2006-07-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103076467A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-05-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J·E·洛佩茲;D·B·謝爾;M·L·吉爾克
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 約翰國(guó)際有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 茅翊忞

本申請(qǐng)是申請(qǐng)人約翰國(guó)際有限公司于2006年7月10日提交的申請(qǐng)?zhí)枮?00610121259.7、題為“測(cè)試座”的發(fā)明專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

這是依據(jù)35U.S.C§111(a)申請(qǐng)的正規(guī)申請(qǐng)，其依據(jù)35U.S.C§119(e)(1)要求依據(jù)35U.S.C§111(b)于2005年7月8日在前申請(qǐng)的臨時(shí)申請(qǐng)No.60/697,693的優(yōu)先權(quán)。

這是進(jìn)一步依據(jù)35U.S.C§(a)申請(qǐng)的正規(guī)申請(qǐng)，其依據(jù)35U.S.C§119(e)(1)要求于2006年2月24日在前申請(qǐng)的臨時(shí)申請(qǐng)No.60/776,654的優(yōu)先權(quán)。

這是進(jìn)一步依據(jù)35U.S.C§(a)申請(qǐng)的正規(guī)申請(qǐng)，其依據(jù)35U.S.C§119(e)(1)要求于2005年7月8日在前申請(qǐng)的臨時(shí)申請(qǐng)No.60/697,721的優(yōu)先權(quán)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子元件測(cè)試技術(shù)。然而更特別地是，本發(fā)明詳細(xì)涉及應(yīng)用接觸件測(cè)試電子元件的測(cè)試座。測(cè)試座包括接觸件，該接觸件互連被測(cè)試的電子元件的導(dǎo)線或焊盤(pán)（pad）和負(fù)載板上的相應(yīng)跡線，并在被測(cè)試的電子元件的導(dǎo)線或焊盤(pán)和負(fù)載板上的相應(yīng)跡線之間提供電子路徑。本發(fā)明關(guān)注于通過(guò)測(cè)試座的相應(yīng)接觸件控制和校準(zhǔn)施加到裝置導(dǎo)線或焊盤(pán)以及負(fù)載板跡線上的力。

背景技術(shù)

集成電路裝置測(cè)試是一種觀察了多年的工序，為的是使電子裝置盡可能獲得高等級(jí)的質(zhì)量控制。測(cè)試器典型地包括形成在與測(cè)試器設(shè)備關(guān)聯(lián)的負(fù)載板上的多條導(dǎo)電跡線。必須將有導(dǎo)線裝置的導(dǎo)線或無(wú)導(dǎo)線裝置的焊盤(pán)互連到負(fù)載板上的相應(yīng)跡線，以便完成測(cè)試。為了實(shí)現(xiàn)互連，將具有多個(gè)接觸件的測(cè)試座插入被測(cè)裝置和負(fù)載板之間。一個(gè)接觸件的前端將被測(cè)裝置的導(dǎo)線或焊盤(pán)與負(fù)載板上的其相應(yīng)跡線接合。

這些年來(lái)，根據(jù)測(cè)試座、負(fù)載板的結(jié)構(gòu)，以及測(cè)試裝置的構(gòu)造，已經(jīng)改進(jìn)了這種接觸件的形狀和結(jié)構(gòu)。以前，人們認(rèn)為在接觸件端接合的不同位置必須具有接帚滑觸（wiping）動(dòng)作，以提供良好的傳輸路徑。然而，隨著技術(shù)進(jìn)步，顯然需要較少的接帚滑觸動(dòng)作，以維持比以前認(rèn)為的更好的傳輸路徑。而且，顯然過(guò)多的接帚滑觸動(dòng)作會(huì)損害位于不同接合點(diǎn)處的元件部分，并且顯著縮短測(cè)試座和測(cè)試器負(fù)載板的壽命。因此，已經(jīng)進(jìn)行了不同的嘗試以使一個(gè)表面相對(duì)于另一個(gè)表面的磨損最小化。然而，本領(lǐng)域的當(dāng)前技術(shù)水平不能限定一種足以使測(cè)試座的效率最大化和使元件部分的磨損以及進(jìn)一步惡化最小化的結(jié)構(gòu)。

本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的這些問(wèn)題和要求。其優(yōu)點(diǎn)將參照發(fā)明內(nèi)容、具體實(shí)施方式、所附的權(quán)利要求以及附圖而變得更加顯而易見(jiàn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明是一種改進(jìn)的測(cè)試座。其包括具有第一表面的殼體，將該第一表面設(shè)置成與測(cè)試器負(fù)載板的表面接合。殼體具有通常與該殼體的第一表面平行并間隔開(kāi)的第二表面。殼體的第二表面面向與第一表面面向的方向相反的方向。在該殼體中形成至少一個(gè)槽，該槽通過(guò)殼體在其第一和第二表面之間延伸。將接觸件容納在相應(yīng)的槽中。這種接觸件具有前端，該前端通常延伸出該殼體的第二表面，以便與測(cè)試裝置的相應(yīng)導(dǎo)線或焊盤(pán)接合。接觸件進(jìn)一步具有限定弓形表面的后端，該弓形表面與形成在測(cè)試器負(fù)載板的表面上的相應(yīng)跡線接合。將接觸件彈性地安裝在其槽中，這樣，當(dāng)接觸件的前端與被測(cè)裝置的導(dǎo)線或焊盤(pán)接合、并且推進(jìn)到其槽中時(shí)，該接觸件的弓形表面在實(shí)際上沒(méi)有平移或旋轉(zhuǎn)滑動(dòng)的情況下在該測(cè)試器負(fù)載板的表面上橫跨其相應(yīng)跡線滾動(dòng)。由此，實(shí)質(zhì)上消除了接觸件和負(fù)載板之間的磨損。

可以想象，接觸件的后端除了限定與負(fù)載板接合的弓形表面之外，還限定了漸成弧形的表面，該逐漸成弧形的表面與其弓形表面成角度地間隔。在本實(shí)施方式中，殼體限定了槽內(nèi)的壁。該壁與該接觸件的后端的漸成弧形的表面接合，并且該漸成弧形的表面與該壁之間的空間關(guān)系使得當(dāng)接觸件的前端與測(cè)試裝置的導(dǎo)線或焊盤(pán)接合，并且推進(jìn)到相應(yīng)的槽中時(shí)，該逐漸成弧形的表面沿壁移動(dòng)，并且使該接觸件的弓形表面橫跨其相應(yīng)跡線滾動(dòng)。可以想象，由殼體限定的壁相對(duì)于殼體的第一表面以銳角成角度地間隔。這能夠?qū)崿F(xiàn)接觸件的弓形表面在實(shí)際上沒(méi)有平移或旋轉(zhuǎn)滑動(dòng)的情況下橫跨測(cè)試器負(fù)載板的跡線滾動(dòng)。

本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式包括一對(duì)垂直橫跨槽的彈性體，以便影響接觸件的彈性安裝。將前彈性體定位在測(cè)試器負(fù)載板的表面和接觸件之間的通道內(nèi)。鑒于由殼體限定的肩部可用于接合接觸件、并限定它們延伸出殼體第二表面的距離的事實(shí)，將前彈性體預(yù)壓縮。由此，通過(guò)接觸件和負(fù)載板夾持其間的前彈性體完成預(yù)壓縮。當(dāng)前彈性體與被測(cè)裝置的導(dǎo)線或焊盤(pán)接合時(shí)，它們進(jìn)一步被接觸件壓縮，并推進(jìn)到它們各自的槽中。