[發(fā)明專利]MEMS陣列電可調(diào)諧光衰減器及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210563668.8 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103885122B | 公開(公告)日: | 2019-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海矽睿科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02B6/26 | 分類號(hào): | G02B6/26;B81C1/00 |
| 代理公司: | 上海金盛協(xié)力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31242 | 代理人: | 王松 |
| 地址: | 201815 上海市嘉*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | mems 陣列 調(diào)諧 衰減器 及其 制備 方法 | ||
1.一種MEMS陣列電可調(diào)諧光衰減器的制備方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
(a)清洗SOI硅片,SOI硅片包括頂硅層、中間氧化層、襯底硅;
(b)在SOI硅片上涂膠、光刻,而后進(jìn)行ICP刻蝕,并清除掩膜材料;
(c)以雙拋單晶硅片為基片,將SOI硅片頂硅層與雙拋單晶硅片I面進(jìn)行硅-硅鍵合,得到硅-硅鍵合片;
(d)硅-硅鍵合片進(jìn)行高溫氧化,形成二氧化硅掩膜,單晶硅片II面涂膠、光刻,去除硅-硅鍵合片上外露的二氧化硅掩膜層,然后進(jìn)行KOH濕法腐蝕去除SOI的襯底硅,同時(shí)單晶硅片完成穿透腐蝕;
(e)去除SOI硅片的中間氧化層,涂膠、光刻,ICP刻蝕制作凸臺(tái);
(f)涂膠、光刻,ICP刻蝕釋放梳齒結(jié)構(gòu),制作MEMS陣列平面梳齒驅(qū)動(dòng)器及微光阻擋器陣列,并在微光阻擋陣列的硅膜上采用硬掩膜技術(shù)蒸鍍光反射膜或光吸收膜,降低光阻擋器的透射光;
(g)進(jìn)行MEMS圓片的劃片,得到物理上分離的MEMS陣列光阻擋驅(qū)動(dòng)器芯片;
(h)MEMS陣列電可調(diào)諧光衰減器的光學(xué)封裝步驟;
所述步驟h包括如下步驟:
(h1)采用光纖陣列FA作為輸入光纖陣列、輸出光纖陣列,光纖陣列FA的帶狀光纖為氣密封裝的帶狀光纖;
(h2)將輸入光纖陣列FA與MEMS陣列光阻擋驅(qū)動(dòng)器芯片對(duì)準(zhǔn),使每根輸入光纖與MEMS陣列驅(qū)動(dòng)器芯片中微擋光器的刀口的位置一致,并且光阻擋器的刀口與輸入的光纖光斑處于臨界的交疊位置,調(diào)節(jié)MEMS陣列光阻擋驅(qū)動(dòng)器芯片與輸入光纖陣列FA接觸,并點(diǎn)膠固定;
(h3)將輸出光纖陣列FA插入MEMS陣列光阻擋驅(qū)動(dòng)器芯片背面腐蝕孔中,與輸入光纖陣列FA進(jìn)行直接光纖耦合,調(diào)節(jié)輸出光纖陣列FA與輸入光纖陣列FA的間距大于但接近于設(shè)計(jì)間隙,然后調(diào)節(jié)光纖陣列FA的上、下位置及角度,直至光纖陣列FA中兩端的兩根光纖耦合損耗同時(shí)最小,再通過光學(xué)調(diào)節(jié)架將輸出光纖陣列FA平移至與MEMS陣列光阻擋驅(qū)動(dòng)器芯片的背后凸臺(tái)接觸,輸入與輸出光纖陣列FA的間距即為設(shè)計(jì)的間隙;
(h4)將輸出光纖陣列FA從MEMS芯片的腐蝕通孔中點(diǎn)膠,將輸出光纖陣列FA與芯片固定,構(gòu)成耦合對(duì)準(zhǔn)的光纖陣列FA-芯片-光纖陣列FA組合體,作為第一組合體;
(h5)將第一組合體用膠固定到PCB基板上,并采用引線鍵合技術(shù)將MEMS芯片的電極引出到PCB基板上,形成第二組合體;
(h6)將第二組合體用膠固定到密封盒的底板上,該底板上已制作密封引線管腳,將PCB基板的引線與密封盒底板上引線管腳進(jìn)行引線鍵合;
(h7)將輸入光纖陣列FA和輸出光纖陣列FA的氣密封裝帶狀光纖從密封盒的兩側(cè)的預(yù)留開口中穿出,在密封盒內(nèi)放入干燥的吸潮材料,將密封盒與底板進(jìn)行氣密焊接;
(h8)將封裝盒進(jìn)行加熱去除濕氣,在干燥的氮?dú)猸h(huán)境中將輸入光纖陣列FA、輸出光纖陣列FA的密封帶狀光纖與封裝盒側(cè)壁進(jìn)行氣密焊接或封接,再進(jìn)一步利用密封膠進(jìn)行密封,確保MEMS陣列光阻擋驅(qū)動(dòng)器芯片工作在氣密環(huán)境中,免受外界空氣濕度的影響。
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