[發(fā)明專利]融合超聲成像、光聲成像和光學(xué)相干層析成像的一體化多模態(tài)成像方法及其系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210561449.6 | 申請日: | 2012-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN103048294A | 公開(公告)日: | 2013-04-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾呂明;劉國棟;楊迪武;紀(jì)軒榮 | 申請(專利權(quán))人: | 江西科技師范大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/45 | 分類號: | G01N21/45;G01N21/31;G01N29/09;G01N29/028 |
| 代理公司: | 南昌新天下專利商標(biāo)代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
| 地址: | 330013*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 融合 超聲 成像 光學(xué) 相干 層析 一體化 多模態(tài) 方法 及其 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種多模態(tài)成像技術(shù),特別是涉及一種融合超聲成像、光聲成像和光學(xué)相干層析成像的一體化多模態(tài)成像方法及其系統(tǒng)。
背景技術(shù)
單模態(tài)影像技術(shù)只能依據(jù)被測樣品的某一方面特性的變化來成像,不能多方面的獲取樣品的豐富信息及其內(nèi)在關(guān)聯(lián),具有一定的應(yīng)用局限性。如超聲成像(Ultrasonic?Imaging,USI)只反映樣品的聲阻抗特性,它具有高穿透性的優(yōu)點(diǎn),但成像對比度很低,且由于樣品界面多次反射及旁瓣干擾出現(xiàn)假反射現(xiàn)象易造成誤判斷;光聲成像(Photoacoustic?Imaging,PAI)只反映樣品對光的吸收特性,其采用寬帶超聲探測器檢測超聲波代替純光學(xué)成像中檢測散射光子,有效的避免了樣品對光的強(qiáng)散射性影響,一般可達(dá)到2-5厘米的探測深度,并且分辨率可達(dá)幾十到幾百微米量;光學(xué)相干層析成像(Optical?Coherence Tomography,OCT)只反映樣品對光的散射特性,但一般來說樣品對光的反射率的變化很微小,并且隨著光的穿透深度增加,光在樣品中的強(qiáng)散射性造成其成像空間分辨率急速下降,一般只能達(dá)到1-5毫米的探測深度,但分辨率可達(dá)幾微米到幾十微米。
當(dāng)前影像技術(shù)發(fā)展的一種趨勢是多模態(tài)成像,即將不同模態(tài)的影像技術(shù)相互結(jié)合以提供更加豐富的影像信息,如USI/PAI技術(shù),USI圖像可提供樣品的聲阻抗信息,同時PAI圖像可提供樣品的光學(xué)吸收信息;PAI/OCT技術(shù),PAI圖像可提供樣品的光學(xué)吸收信息,同時OCT圖像可提供樣品的光散射特性。單模態(tài)成像只能觀測到一個方面信息,而多模態(tài)成像可以同時觀測到兩個甚至兩個以上方面的信息,這對研究物體內(nèi)不同系統(tǒng)之間的相互作用至關(guān)重要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是提供一種融合超聲成像、光聲成像和光學(xué)相干層析成像的一體化多模態(tài)成像方法及其系統(tǒng),它將超聲成像、光聲成像和光學(xué)相干層析成像三種不同功能的影像技術(shù)便攜式集成一體,可達(dá)到三種影像模式的任意組合應(yīng)用。
本發(fā)明的融合超聲成像、光聲成像和光學(xué)相干層析成像的一體化多模態(tài)成像方法,包括以下步驟:
1、激光二極管發(fā)射的脈沖激光經(jīng)透鏡組、分色鏡和透鏡組聚焦后照射在樣品上激發(fā)出光聲信號,超聲傳感器接收光聲信號,經(jīng)由開關(guān)電路和預(yù)處理電路后采集進(jìn)計算機(jī);
2、脈沖電壓發(fā)生器發(fā)射的脈沖電壓經(jīng)開關(guān)電路施加到超聲傳感器上激發(fā)出超聲信號,超聲信號穿過樣品臺輻射到樣品上并反射回,超聲傳感器再接收超聲回波信號,經(jīng)由開關(guān)電路和預(yù)處理電路后采集進(jìn)計算機(jī);
3、發(fā)光二極管發(fā)出的弱相干激光由光纖導(dǎo)出,經(jīng)光纖耦合器分成兩路,其中一路光為探測光由光纖導(dǎo)出,經(jīng)透鏡組、分色鏡和透鏡組聚焦后照射在樣品上,反射后經(jīng)透鏡組、分色鏡、透鏡組、光纖、光纖耦合器和光纖后照射在光電探測器上;
4、發(fā)光二極管發(fā)出的連續(xù)激光經(jīng)光纖和光纖耦合器后的另一路光為參考光,經(jīng)光纖和透鏡組照射在反射鏡上,反射后經(jīng)透鏡組、光纖、光纖耦合器和光纖后照射在光電探測器上;
5、反射回的探測光和參考光相干后的干涉光被光電探測器檢測到,經(jīng)鎖相放大器后采集進(jìn)信號處理器;
6、三維平移臺帶動上表面放有樣品的樣品臺做二維平移掃描。
上述步驟1和6可有效探測樣品激發(fā)出的光聲信號,獲取樣品的光吸收特性,實(shí)現(xiàn)對樣品的光聲成像。
上述步驟2和6可有效探測樣品反射的超聲回波,獲取樣品的聲阻抗特性,實(shí)現(xiàn)對樣品的超聲成像。
上述步驟3-6可有效探測樣品的散射光子,獲取樣品的光散射特性,實(shí)現(xiàn)對樣品的光學(xué)相干層析成像。
本發(fā)明的融合超聲成像、光聲成像和光學(xué)相干層析成像的一體化多模態(tài)成像方法的系統(tǒng),由控制與處理單元、分光與聚焦單元構(gòu)成,所述控制與處理單元包括激光二極管、發(fā)光二極管、光電探測器、鎖相放大器、計算機(jī)、預(yù)處理電路、時序控制器、脈沖電壓發(fā)生器、開關(guān)電路、超聲傳感器、三維平移臺、樣品臺;所述分光與聚焦單元包括光纖、光纖耦合器、透鏡組、反射鏡、分色鏡、光路外殼。
所述超聲傳感器、開關(guān)電路、預(yù)處理電路、計算機(jī)依次導(dǎo)線連接,所述開關(guān)電路還與脈沖電壓發(fā)生器導(dǎo)線連接;所述時序控制器與激光二極管、鎖相放大器、脈沖電壓發(fā)生器分別導(dǎo)線連接;所述光電探測器、鎖相放大器、計算機(jī)依次導(dǎo)線連接;所述計算機(jī)與三維平移臺導(dǎo)線連接,所述三維平移臺還與反射鏡、樣品臺連接;所述光纖耦合器通過光纖分別與發(fā)光二極管、光電探測器連接。
所述透鏡組可分別由一塊或多塊透鏡組合而成。
所述反射鏡可由三維平移臺帶動做一維平移。
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





