[發明專利]磁體電學中心定位方法

有效

• 申請號: 201210559679.9
• 申請日: 2012-12-20
• 公開（公告）號: CN103885012B
• 公開（公告）日: 2017-11-28
• 發明（設計）人: 于廣澤;楊績文
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/24
• 分類號: G01R33/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

【技術領域】

本發明涉及磁共振領域，尤其涉及在磁共振系統中磁體電學中心的定位方法。

【背景技術】

磁共振設備中，磁體在制作的過程中，實際電學中心往往會偏離磁體幾何中心(制作時一般設定磁體幾何中心為磁體的電學中心)，能否準確定位磁體電學中心對系統的均勻度有很大的影響，同時梯度線圈、體線圈等部件也需要根據磁體電學中心進行定位，因此磁體的實際電學中心是很重要的參數，需要對其進行準確定位。

現有技術中，對磁體電學中心的測量是通過如下方法進行的：將分布著一定數量探頭的測量面板放入磁體中，按固定角度旋轉測量面板，每旋轉一次測量面板測得一組磁場分布，旋轉360度(即一周)后，便能得到一個完整的球面上的磁場分布；根據磁場分布計算某些特征量，若該特征量的數值在一定數值范圍以內，則此時測量區域的中心為磁體電學中心，否則將根據該特征量的數值向前或向后移動測量面板，重新旋轉測量面板測量球面上的磁場分布，再次計算特征值進行判斷，直到找到磁體電學中心為止。

由于每對一個位置測量球面上的磁場分布，都需要多次旋轉測量面板，上述測量方法大大增加了測試時間，提高了測試成本。另一方面，整個測量磁體電學中心的過程中，旋轉和移動測量面板都是通過人工操作進行的，過多的人工操作將帶來操作復雜性，降低測量結果的精度。

【發明內容】

為了解決現有技術中，磁體電學中心測試過程繁瑣，測試結果精度低的問題，本發明提供了一種磁體電學中心的定位方法，

一種磁體電學中心定位方法，包括如下步驟：

S10)測量以磁體幾何中心O為球心、R₀為半徑的第一球面上n個點的磁場強度值B_n；

S11)將所述磁場強度值B_n、所述第一球面上n個點在以磁體幾何中心O為原點的坐標系中的值(γ_n，θ_n代入公式計算出諧函數系數A_lm及B_lm；

S12)距離磁體幾何中心O預定范圍內，沿X軸、Y軸或Z軸選取點O₁，將以所述點O₁為球心、R₁為半徑的第二球面上的n個點在以磁體幾何中心O為原點的坐標系中的值所述第二球面上多個點距離磁幾何中心O的距離r_n以及所述諧函數系數A_lm及B_lm代入公式計算出所述第二球面上n個點的磁場強度B′_n；

S13)將所述磁場強度B′_n、所述第二球面上n個點在以點O₁為原點的坐標系中的值代入公式計算出諧函數系數A′_lm及B′_lm；

S14)從所述諧函數系數A′_lm或B′_lm中選取特征項，判斷所述特征項是否位于閾值范圍內；

S15)若是，則所述點O₁即為磁體電學中心，若否，重新執行步驟S12～S14。

可選的，所述步驟S11之后還包括：

S16)從所述諧函數系數A_lm或B_lm中選取特征項，判斷所述特征項是否位于閾值范圍內；

S17)若是，則所述磁體幾何中心O即為磁體電學中心，若否，則執行步驟S12。

可選的，所述預定范圍為±10mm之內。

可選的，所述若選取Z軸方上的點，則所述特征項為A′_13，0、A′_15，0或A′_17，0。

可選的，所述若選取X軸方上的點，則所述特征項為A′_13，1、A′_15，1或A′_17，1。

可選的，所述若選取Y軸方上的點，則所述特征項為B′_13，1、B′_15，1或B′_17，1。

可選的，所述閾值范圍為±5.00E-07之內。

可選的，所述R₀與R₁的差值絕對值要大于所述磁體幾何中心O以及選取的點O₁之間的距離L₁。

可選的，所述第一球面上n個點的數量與所述第二球面上n個點的數量均為480。