[發明專利]C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法

有效

• 申請號: 201210558657.0
• 申請日: 2012-12-20
• 公開（公告）號: CN102973291A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 王瑜;李迅波;陳亮;王成棟;汪忠來;梁巍;黃建龍
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: A61B6/02
• 分類號: A61B6/02
• 代理公司: 成都科海專利事務有限責任公司 51202
• 代理人: 鄧繼軒

1.一種C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法，其特征在于成像方法的步驟包括：檢測器（4）上的陣元（5）接受X射線源（2）發射的X射線（3）衰減信號；X射線源（2）和檢測器（4）繞水平軸線（9）旋轉，數據采集系統（11）將陣元（5）獲取的X射線（3）衰減信號轉換為錐束投影數據；圖像重建系統（15）接收錐束投影數據，輸入錐束投影數據預處理模塊（20）進行預處理；預處理后的投影數據并行輸入到偏導數模塊Ⅰ（21）、偏導數模塊Ⅱ（22）和偏導數模塊Ⅲ（23）計算關于不同參數的偏導數；偏導加權模塊（24）并行接收相應的偏導數據，進行加權求和，獲得投影數據的偏導數g＇(λ,u,v)；投影數據的偏導數并行輸入到濾波模塊Ⅰ（25）、濾波模塊Ⅱ（26）和濾波模塊Ⅲ（27）分別計算沿三類濾波線的濾波；濾波加權反投影模塊（28）并行接收三類濾波數據，進行權重求和，產生反投影數據，再進行沿圓弧軌跡的反投影操作，獲得斷層圖像（29）。

2.根據權利要求1所述C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法，其特征在于所述數據采集系統（11）是把檢測器陣元接收的X射線模擬信號轉換為數字信號，進而轉化成錐束投影數據。

3.根據權利要求1所述C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法，其特征在于所述射源發射X射線（3），并繞水平軸線旋轉，產生圓弧掃描軌跡，包括短掃描和超短掃描軌跡。

4.根據權利要求1所述C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法，其特征在于所述檢測器（4）是指二維平板檢測器，由若干個陣元組成，每個陣元可感光X射線。

5.根據權利要求1所述的C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法，其特征在于所述的沿三類濾波線是指：與圓弧軌跡相切的臨界面與檢測器平面的交線；過圓弧起始或終止端點的臨界面與檢測器平面的交線。

6.根據權利要求1所述的C型臂半精確濾波反投影斷層成像方法，其特征在于所述的沿三類濾波線的濾波是指：偏導數據沿與圓弧軌跡相切的臨界面與檢測器平面的交線進行的希爾伯特濾波；偏導數據沿過圓弧起始端點的臨界面與檢測器平面的交線進行的希爾伯特濾波；偏導數據沿過圓弧終止端點的臨界面與檢測器平面的交線進行的希爾伯特濾波。