[發明專利]磁力量測方法

有效

• 申請號: 201210555554.9
• 申請日: 2012-12-19
• 公開（公告）號: CN103885008A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 林威成;許廷宇
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;G01R35/00
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧

1.一種磁力量測方法，其特征在于其包含:

(1)提供磁力量測系統，其中，該磁力量測系統具有測試板，該測試板的中間位置設置有標準件測試點，而在該測試板的其他位置設置有多個待測元件測試點;

(2)借由標準件進行校驗流程，而獲得磁力量測系統中測試磁場的磁場特性曲線以及該測試磁場于該測試板上的磁場分布;

(3)根據所獲得的該測試磁場的磁場特性曲線以及該測試磁場于該測試板上的磁場分布，對每一個該待測元件測試點進行補償;

(4)測試各個待測元件測試點上的待測元件的磁場值;以及

(5)確認各個待測元件測試點上的待測元件的磁場值是否符合規格。

2.如權利要求1所述的磁力量測方法，其特征在于該磁力量測系統包含:

該測試板，其中，該標準件測試點設置有標準件測試座，用以容置該標準件，每一個該待測元件測試點設置有對應的待測元件測試座，用以容置該待測元件;

單軸磁力線圈，用以在該磁力量測系統中提供測試磁場進行磁力量測;以及

承載機構，用以承載該測試板在該磁力量測系統中進行磁力量測、控制該測試板進行不同軸向的轉動以測試該測試板上的待測元件進行不同軸向的磁力量測、以及控制該測試板在磁力量測進行運動。

3.如權利要求2所述的磁力量測方法，其特征在于該單軸磁力線圈還包含設置于該磁力量測系統上部的上部線圈，以及設置于該磁力量測系統下部的下部線圈。

4.如權利要求1所述的磁力量測方法，其特征在于該校驗流程包含:

使用標準儀器校驗該標準件，以確定該標準件符合標準規格;

提供電流給該磁力量測系統以產生測試磁場;

以該標準件依序量測該標準測試點與各個該待測元件測試點的磁場值，以獲得該測試磁場的磁場特性曲線以及該測試磁場于該測試板上的磁場分布;以及

將所獲得該測試磁場的磁場特性曲線以及該測試磁場于該測試板上的磁場分布記錄或儲存，以供待測元件進行磁力測試時使用。

5.如權利要求4所述的磁力量測方法，其特征在于該提供電流給該磁力量測系統以產生測試磁場步驟，是提供不同的電流給該磁力量測系統以產生不同的測試磁場。

6.如權利要求5所述的磁力量測方法，其特征在于該以該標準件依序量測該標準測試點與各個該待測元件測試點的磁場值步驟，是在不同的測試磁場中，以該標準件依序量測該標準測試點與各個該待測元件測試點的磁場值，而獲得各個該測試磁場的磁場特性曲線以及其于該測試板上的磁場分布。

7.如權利要求1所述的磁力量測方法，其特征在于其還包含確認磁場值步驟于步驟(4)之前實施，借由放置于標準件測試點上的該標準件量測該磁力量測系統所提供的測試磁場是否符合預定的磁場值。

8.如權利要求7所述的磁力量測方法，其特征在于當確認該磁力量測系統所提供的測試磁場符合預定的磁場值，則進行步驟(4)。

9.如權利要求7所述的磁力量測方法，其特征在于當確認該磁力量測系統所提供的測試磁場不符合預定的磁場值，則會對標準件進行自我檢測步驟，以確定該標準件是否符合標準規格或是否有異常。

10.如權利要求9所述的磁力量測方法，其特征在于當確定該標準件符合標準規格或是沒有異常，則依據該標準件所量測的磁場值調整供給該磁力量測系統的電流，而調整該磁力量測系統的測試磁場的磁場值。

11.如權利要求1所述的磁力量測方法，其特征在于步驟(3)是根據步驟(2)所獲得的該測試磁場的磁場特性曲線以及該測試磁場于該測試板上的磁場分布，調整供給該磁力量測系統的電流，而將待測元件測試點的磁場值調整到預定磁場值。

12.如權利要求1所述的磁力量測方法，其特征在于在該步驟(2)中，經由以該標準件在標準件量測點測得的磁場值與以該標準件在各個待測元件量測點測得的磁場值相比較，可以獲得每一個待測元件量測點的補償值。

13.如權利要求12所述的磁力量測方法，其特征在于每一個待測元件量測點的補償值是以該標準件在該待測元件量測點測得的磁場值減去以該標準件在標準件量測點測得的磁場值所得的差值。