[發明專利]測量儀有效
| 申請號: | 201210555025.9 | 申請日: | 2012-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN103162674A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發明(設計)人: | 熊谷薰;大佛一毅;穴井哲治;大友文夫 | 申請(專利權)人: | 株式會社拓普康 |
| 主分類號: | G01C15/00 | 分類號: | G01C15/00 |
| 代理公司: | 北京北翔知識產權代理有限公司 11285 | 代理人: | 楊勇;洪玉姬 |
| 地址: | 日本東京*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量儀 | ||
1.一種測量儀,具備:觀察光學系統,其具有用于輸出數字圖像信號的圖像傳感器和變焦光學系統;基準圖形投影光學系統,其將基準圖形以無窮遠的狀態入射至所述觀察光學系統并成像于所述圖像傳感器;轉動機構,其將所述觀察光學系統和所述基準圖形投影光學系統作為一體可在水平、鉛直的兩個方向上轉動;水平角度檢測器、鉛直角度檢測器,其用于檢測該轉動機構在兩個方向上轉動的水平角、鉛直角;以及運算控制部,其中,該運算控制部根據所述水平角度檢測器、所述鉛直角度檢測器的檢測結果和在所述圖像傳感器上的所述基準圖形與所述觀察光學系統的準直點之間的差別來測定該準直點的水平角、鉛直角。
2.權利要求1所述的測量儀,還具備光電測距儀,對測定對象物的測定點進行測距,其中該光電測距儀具有與所述觀察光學系統的光軸平行的測距光軸。
3.權利要求2所述的測量儀,還具備微調機構,該微調機構設置在所述測距光軸上,并對該測距光軸的偏轉進行微調,而且所述測量儀以使測距的測定點與所述觀察光學系統的測定點相一致的方式構成。
4.權利要求1-3中任一項所述的測量儀,其中,所述基準圖形是由垂直相交的線構成的格子,通過測定投影至所述圖像傳感器的所述格子的線間距來運算變焦倍率。
5.權利要求1-4中任一項所述的測量儀,其中,所述基準圖形是由垂直相交的線構成的格子,通過測定投影至所述圖像傳感器的所述格子來運算圖像的畸變,并根據運算結果來校正測定結果。
6.權利要求1-5中任一項所述的測量儀,其中,所述觀察光學系統是市售的數碼相機。
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