[發明專利]基于電容電流的CVT諧波測試方法無效
| 申請號： | 201210554929.X | 申請日： | 2012-12-19 |
| 公開（公告）號： | CN103063916A | 公開（公告）日： | 2013-04-24 |
| 發明（設計）人： | 趙志斌;曹敏;王昕;畢志周;劉清蟬;靳曉軍 | 申請（專利權）人： | 華北電力大學;云南電力試驗研究院（集團）有限公司電力研究院 |
| 主分類號： | G01R23/16 | 分類號： | G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246 | 代理人： | 陳波 |
| 地址： | 102206 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 電容 電流 cvt 諧波 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于電容電流的CVT諧波測試方法，其特征在于，所述方法具體包括以下步驟：
步驟1：通過電流傳感器分別測量流過低壓電容C2的電容電流I2(jω)流過高壓電容C1的電流I1(jω)，其中，j為虛數單位；ω為相位角；
步驟2：應用諧波分析系統計算直接得到CVT一次側各頻點的電壓U1(jω)，并進行諧波分析。
2.根據權利要求1所述的一種基于電容電流的CVT諧波測試方法，其特征在于，所述步驟2中，應用諧波分析系統計算直接得到CVT一次側各頻點的電壓U1(jω)的計算公式為：
U1(jω)=I1(jω)jXc1+I2(jω)jXc2
其中，U1(jω)為CVT一次側電壓；I1(jω)為流過高壓電容C1在各頻點的電流，通過電流線圈A測量；I2(jω)為流過低壓電容C2在各頻點的入地電流，通過電流線圈B測量；Xc1為高壓電容器C1對應于各頻點的電抗值，Xc2為低壓電容器C2對應于各頻點的電抗值；j為虛數單位；ω為相位角。
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