[發明專利]一種微波暗室性能測量系統

有效

• 申請號: 201210553998.9
• 申請日: 2012-12-19
• 公開（公告）號: CN103036629A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 鄭生全;黃瓊;朱傳煥;蔣炎坤;朱濤;黃松高
• 申請（專利權）人: 中國艦船研究設計中心
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 胡建平;王丹

1.一種微波暗室性能測量系統，其特征在于：它包括測試臺架和控制設備，其中所述的測試臺架包括用于升降和旋轉發射天線的發射天線臺架，以及用于在三維空間內移動和旋轉接收天線的接收天線臺架；發射天線臺架位于微波暗室的發射區域，接收天線臺架位于微波暗室靜區位置；

所述的控制設備包括處理器、激光測距傳感器、控制測試臺架中各運動部件運動的步進電機、信號源和信號接收裝置；激光測距傳感器設置在控制測試臺架上用于獲得發射天線和接收天線的具體位置信息，并傳輸給處理器；處理器通過步進電機驅動器驅動各步進電機、驅動信號源控制發射天線發射信號、通過信號接收裝置接收接收天線的信號、并對發射和接收的數據進行分析處理。

2.根據權利要求1所述的微波暗室性能測量系統，其特征在于：所述的發射天線臺架包括豎直的發射天線升降直軌，發射天線升降直軌的頂部設有發射天線旋轉臺，發射天線設置在發射天線旋轉臺的旋轉面上；接收天線臺架包括水平的接收天線平移直軌和豎直的接收天線升降直軌，接收天線升降直軌的頂部設有接收天線旋轉臺，接收天線設置在接收天線旋轉臺的旋轉面上；豎直的接收天線升降直軌整體在接收天線平移直軌上運動；

所述的運動部件包括發射天線升降直軌、接收天線平移直軌、接收天線升降直軌、發射天線旋轉臺和接收天線旋轉臺；

所述的激光測距傳感器設置在各直軌兩端。

3.根據權利要求2所述的微波暗室性能測量系統，其特征在于：所述的接收天線平移直軌包括至少2根相互平行的運動直軌，記為y方向運動直軌，在y方向運動直軌上架設有與其垂直的至少2根相互平行的運動直軌，記為x方向運動直軌，在x方向運動直軌上架設有運動平臺，運動平臺可沿x方向運動直軌運動，且運動平臺可隨x方向運動直軌沿y方向運動直軌運動，x方向運動直軌和y方向運動直軌均設在水平面上，所述的接收天線升降直軌底端與運動平臺固定連接。

4.根據權利要求1至3中任意一項所述的微波暗室性能測量系統，其特征在于：所述的測試臺架采用MC尼龍材料制成。

5.根據權利要求2或3所述的微波暗室性能測量系統，其特征在于：所述的發射天線旋轉臺繞發射天線升降直軌旋轉，所述的接收天線旋轉臺繞接收天線升降直軌旋轉。

6.根據權利要求1至3中任意一項所述的微波暗室性能測量系統，其特征在于：所述的信號接收裝置為頻譜分析儀。

7.根據權利要求3所述的微波暗室性能測量系統，其特征在于：所述的y方向運動直軌和x方向運動直軌的兩端各設有限位保護開關。