[發(fā)明專利]線圈測試裝置、磁共振系統(tǒng)及其輸出校正方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210552668.8
• 申請日: 2012-12-18
• 公開（公告）號: CN103869268B
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發(fā)明（設計）人: 陽昭衡
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫(yī)療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/36
• 分類號: G01R33/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及磁共振成像技術領域，特別涉及一種線圈測試裝置、磁共振系統(tǒng)及其輸出校正方法和裝置。

背景技術

磁共振成像(MRI，Magnetic Resonance Imaging)作為核磁共振應用的重要領域，由于其對人體軟組織有極好的分辨力、成像參數能提供豐富的診斷信息、對人體沒有電離輻射損傷等諸多優(yōu)點，磁共振成像系統(tǒng)已成為醫(yī)學臨床診斷的主要工具之一。作為磁共振系統(tǒng)中接收信號的核心部件，射頻線圈在直接接觸人體使用前，需要利用線圈測試裝置對線圈進行包括諸如傳輸特性、線圈類型等性能測試，確保經過性能測試后的線圈正常使用。

在利用線圈測試裝置對線圈進行測試或利用線圈對人體進行測試時，需要測量線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)輸出的多路電流和電壓，將測量到的電流值和電壓值作為判斷線圈狀態(tài)是否正常的標準之一。由于元器件差異的存在，得到的電流和電壓的測量值和實際值之間會存在一定差異，為了消除此種由元器件差異對電路測量結果帶來的不利影響，需要對線圈測試裝置的輸出進行校正，即對線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)輸出的電流和電壓進行校正。

現有技術中，對線圈測試裝置的輸出校正方法為：測量建立校正函數所需要的參數；將所述參數寫入代碼中；利用寫入代碼的參數建立校正函數；在實際測量輸出的電流和電壓時，調用校正函數，得到線圈測試裝置輸出端口的參數值。以校正線圈測試裝置輸出的電流為例，首先，在需要校正的線圈測試裝置的輸出端口接入負載電阻和電流表，參考圖1所示，串聯的負載電阻11和電流表12一端接需要校正的輸出端口，另一端接地。讀出此狀態(tài)下電流表12的電流值，此電流值為校正參考電流值i₀，并得到校正參考電流值i₀經過電流/電壓轉換和模數轉換后對應的校正采樣數據I₀。將校正參考電流值i₀和校正采樣數據I₀寫入代碼中，并建立校正函數：i_x：i₀＝I_x：I₀，其中，i_x表示輸出端口的電流值，I_x表示輸出端口的電流值i_x對應的采樣數據。對此路輸出端口的電流進行測量時，得到輸出端口的電流值i_x對應的采樣值I_x，通過調用校正函數：i_x：i₀＝I_x：I₀，便可以得到輸出端口的電流值i_x。

然而，利用上述方法對線圈測試裝置的輸出進行校正具有以下缺點：在實際校正中發(fā)現，利用上述方法對電流校正后得到的測量值準確度較低，由于元器件差異對電路測量結果仍會產生較大影響；線圈測試裝置有多路電流和電壓輸出，對每一路的測量都要分別重復上述步驟，校正效率較低；對每一路的測量，需要將校正參考電流值i₀和校正采樣數據I₀寫入代碼中，因此，需要將代碼公開，降低了需要保密的代碼的安全性。

更多關于磁共振系統(tǒng)中數據校正方法的技術方案可以參考申請?zhí)枮?00910254204.7、發(fā)明名稱為用于確定失真校正數據的方法和裝置的中國專利申請文件。

發(fā)明內容

本發(fā)明解決的是對線圈測試裝置的輸出校正產生的校正結果準確度低、校正依賴于代碼和校正效率低的問題。

為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種線圈測試裝置的輸出校正方法，所述線圈測試裝置的輸出校正方法包括：在線圈測試裝置的輸出端口未接入負載時，對所述輸出端口的信號進行采樣，得到第一校正數據；在所述輸出端口接入可調負載和測量儀表；調整所述可調負載，使所述測量儀表的讀數為預定值，對所述輸出端口的信號進行采樣，得到第二校正數據；建立所述輸出端口對應的校正函數：a_x*(A₁-A₀)＝(A_x-A₀)*N，其中，a_x表示所述輸出端口的信號的參數值，A_x表示所述輸出端口的信號對應的采樣數據，A₀表示所述第一校正數據，A₁表示所述第二校正數據，N表示所述預定值；在實際測量時，對所述輸出端口的信號進行采樣，得到所述輸出端口的信號對應的采樣數據；調用所述輸出端口對應的校正函數，以獲得所述輸出端口的信號的參數值。

可選的，所述可調負載為可調電阻。